[发明专利]切伦科夫荧光成像中γ射线的去除方法有效

专利信息
申请号: 201310051432.0 申请日: 2013-01-26
公开(公告)号: CN103177425A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 梁继民;刘沐寒;徐显辉;屈晓超;陈雪利;田捷 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;A61B6/00
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 田文英;王品华
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 切伦科夫 荧光 成像 射线 去除 方法
【权利要求书】:

1.切伦科夫荧光成像中γ射线的去除方法,包括如下步骤:

(1)获取图像数据

1a)在避光条件下用CCD相机捕获切伦科夫荧光图像;

1b)在避光条件下用CCD相机捕获背景噪声图像;

(2)图像预处理

将采集的荧光图像减去背景噪声图像,得到被干扰图像;

(3)根据如下公式计算图像掩膜的宽度:

w=2t+1

其中,w表示图像掩膜的宽度大小,t表示迭代的次数;

(4)获取局部方差图像

4a)使用平滑线性滤波器,对被干扰图像进行平滑线性滤波,获得图像中每个像素的局部均值;

4b)利用图像局部方差公式,计算被干扰图像中每个像素的局部方差,获取局部方差图像;

(5)确定被干扰像素

5a)采用最大类间方差法处理局部方差图像,获取判定阈值;

5b)将局部方差图像中方差大于判定阈值的像素标记为被干扰像素;

(6)构造信号判定矩阵

利用下面公式构造信号判定矩阵:

S(i,j)=1D(i,j)C0D(i,j)C]]>

其中,S(i,j)表示构造的信号判定矩阵,(i,j)表示信号判定矩阵第i行第j列对应的坐标值,D(i,j)表示被干扰图像在第i行第j列对应坐标的像素值,C表示被干扰像素的集合;

(7)修复被干扰像素,获取初步修复图像

利用如下公式修复被干扰图像中被γ射线干扰的像素,获取初步修复图像:

p(i,j)=Σ(m,n)AS(m,n)D(m,n)Σ(m,n)AS(m,n)]]>

其中,p(i,j)表示修复后的被干扰像素,(i,j)表示修复后的被干扰像素对应的坐标值,(m,n)表示以坐标(i,j)为中心的图像掩膜范围内的图像像素对应的坐标值,A表示以坐标(i,j)为中心的图像掩膜范围内的图像像素的集合,∑·表示求和运算符,S(m,n)表示信号判定矩阵第m行第n列对应的值,D(m,n)表示被干扰图像第m行第n列对应坐标的像素值;

(8)判断初步修复图像是否满足处理要求

人工观察判断初步修复图像中是否存在被干扰的像素,如果是,将初步修复图像作为被干扰图像,返回步骤(3);否则,执行下一步骤;

(9)对初步修复图像抑噪

采用非截断小波抑噪公式,对初步修复图像进行抑噪,得到去除干扰图像,去除γ射线的过程结束。

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