[发明专利]聚合物颗粒及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310051336.6 申请日: 2011-03-08
公开(公告)号: CN103242515B 公开(公告)日: 2013-08-14
发明(设计)人: 间瀬畅之;佐古猛;冈岛泉;森俊介;水野慧士;山内祥敬;根本太一;田中千秋;关口圣之;石塚润 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: C08G63/08 分类号: C08G63/08;C08G63/64;C08G63/78;C08F112/08
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 宋莉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 聚合物 颗粒 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.由能开环聚合的单体制造的聚合物颗粒,其中所述聚合物颗粒在 它们的表面上包含表面活性剂,

其中所述表面活性剂由通式(1a)~(7a)中的任一个表示:

在通式(1a)中,R1~R5各自表示氢原子或C1~C4低级烷基,R6~R8 表示C1~C4低级烷基,并且m、n和k各自是表示重复单元数的整数, 其中m/n=0.3~70且1≤k≤4;而且表面活性剂的数均分子量为7,000或 更低,

在通式(2a)中,R9表示氢原子或甲基,R10表示亚甲基或亚乙基, Rf表示C7~C10全氟烷基且q是表示重复单元数的整数;而且表面活性 剂的数均分子量为2,500或更低,

在通式(3a)中,R9表示氢原子或甲基,并且r和p各自是表示重复单 元数的整数;而且表面活性剂的数均分子量为5,500或更低,

在通式(4a)中,R6~R8各自表示C1~C4低级烷基,R表示C1~C4低 级亚烷基,并且m、n和p各自是表示重复单元数的整数,其中m/n= 0.3~70;而且表面活性剂的数均分子量为5,000或更低,

在通式(5a)中,n是表示重复单元数的整数和Me表示甲基;并且表 面活性剂的数均分子量为5,000或更低,

在通式(6a)中,R9表示C1~C4低级烷基,X表示亲水基团,m和n 各自是表示重复单元数的整数,其中m/n=0.3~70,Me表示甲基;而且 表面活性剂的数均分子量为5,000或更低,

在通式(7a)中,R10表示C1~C4低级烷基,Y表示氧原子或硫原子, m和n各自是表示重复单元数的整数,其中m/n=0.3~70,Me表示甲基 和Ph表示苯基;而且表面活性剂的数均分子量为5,000或更低,并且

其中所述能开环聚合的单体是L型乳酸的丙交酯、D型乳酸的丙交 酯、或L型乳酸和D型乳酸的丙交酯。

2.权利要求1的聚合物颗粒,其中所述聚合物颗粒具有1.5或更小的 分子量分布Mw/Mn,其中Mw表示所述聚合物颗粒的重均分子量且Mn 表示所述聚合物颗粒的数均分子量。

3.由能加成聚合的单体制造的聚合物颗粒,其中所述聚合物颗粒在 它们的表面上包含表面活性剂,

其中所述表面活性剂是由下列通式(1)、(2)或(3)表示的表面活性剂:

其中Me表示甲基;R1、R2和R3中的一个或两个各自表示含有C6~C30 长链烷基的残基且其余的各自表示含有C1~C4低级烷基的残基;并且m 和n各自是表示重复单元数的1或更大的整数;

其中,Me表示甲基,R4和R6各自表示氢原子或甲基,R5表示亚甲 基或亚乙基,并且m和n各自是表示重复单元数的1或更大的整数;

其中R7和R8中的至少一个表示含有C6~C30长链烷基的残基且其余 的表示含有C1~C4低级烷基的残基;R9~R13各自表示氢原子或C1~C4低 级烷基;并且m和n各自是表示重复单元数的1或更大的整数。

4.权利要求3的聚合物颗粒,其中所述能加成聚合的单体是苯乙烯 化合物、或者甲基丙烯酸酯。

5.权利要求3或4的聚合物颗粒,其中所述聚合物颗粒具有2.0或更 小的分子量分布Mw/Mn,其中Mw表示所述聚合物颗粒的重均分子量且 Mn表示所述聚合物颗粒的数均分子量。

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