[发明专利]用于进行测试接触器模块的自动维护的装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于测试电子器件，例如LED（Light-Emitting Diode）器件的测试接触器模块（test contactor module），尤其是涉及这种测试接触器模块的维护。

背景技术

传统的电气测试机（electrical testers）通常包括电气触点如接触探针（contact probes）和与该接触探针一起配合使用的绝缘插座（insulation socket）。在测试过程中，测试中的器件（DUT：Devices Under Test）被放置在绝缘插座上，而接触探针和装配在绝缘插座上的DUT形成电气接触。

图1是具有多个测试台（test stands）102的传统的旋转转盘（rotary turret disk）100的立体示意图。在所阐述的旋转转盘100中安装有合计16个测试台102。测试台102沿着旋转转盘100的周边设置，并空间上相互等距离布置。每个测试台102具有位于其表面顶部的绝缘插座104，以装配DUT进行测试。

拾取臂通常用于传送DUT至绝缘插座104，并在测试之后移除DUT。测试接触器模块的位置通常是固定的，测试接触器模块的接触探针被用于形成必要的电气接触以电性地测试DUT。所以，旋转转盘100依次地旋转以在测试接触器模块的位置定位每个测试台102和绝缘插座104，以便于在DUT上完成电气测试。

尤其对于LED器件的生产而言，电气测试必须在LED上进行，接触探针的性能将会影响测试结果。在所执行的测试中，一种正向电压测试（forward voltage test）需要接触探针具有非常良好的导电性，否则正向电压或Vf范围的巨大变化和不可靠的生产测试量将会出现。为了克服这个问题，操作员必须监控测试结果，和或者定期地或者如果测试结果不令人满意有必要时手工清洁接触探针以保证良好的性能。

在普通实践中，如果长的机器停车之后或不良接触，或者在不正常的测试条件下如Vf测量的波动等等，那么接触探针需要被手工清洁以保持接触探针的良好导电性，而移除污染物。这需要测试机器的操作停止，和导致空闲时间。其非常浪费时间和浪费人工。

发明内容

因此，本发明的目的在于寻求提供一种用于自动维护测试接触器模块的接触探针的导电性的装置，其在不浪费时间进行人工干预的情形下，例如通过清洁和核验（verifying）接触探针的导电性的方式。

从而，本发明第一方面提供一种用于维护测试接触器的电气触点的导电性的装置，该测试接触器用于测试电子器件，该装置包含有：旋转转盘，其具有多个测试台，其被操作来固定各个电子器件，在测试期间该电子器件被旋转转盘转动至测试接触器的位置以被电气触点所接触；以及一个或者一个以上的接触器维护台，其包括维护部件，该接触器维护台被设置在旋转转盘的相邻测试台之间；其中，测试接触器的电气触点被采用来结合维护部件，以便于自动地清洁电气触点和/或核验那里的导电性。

本发明第二方面提供一种测试机器，其包含有：测试接触器，其具有电气触点以用于测试电子器件；旋转转盘，其具有多个测试台，其被操作来固定各个电子器件，在测试期间该电子器件被旋转转盘转动至测试接触器的位置以被电气触点所接触；以及一个或者一个以上的接触器维护台，其包括用于维护电气触点的导电性的维护部件，该接触器维护台被设置在旋转转盘的相邻测试台之间；其中，测试接触器的电气触点被采用来结合维护部件，以便于自动地清洁电气触点和/或核验那里的导电性。

本发明第三方面提供一种维护测试接触器的电气触点的导电性的方法，该测试接触器用于测试电子器件，该方法包含有以下步骤：在设置于旋转转盘的多个测试台上固定各个电子器件，以便于该电子器件被旋转转盘转动至测试接触器的位置以被电气触点所接触而进行测试；旋转一个或者一个以上的位于旋转转盘上的接触器维护台至测试接触器的位置，该接触器维护台包含有维护部件，该接触器维护台被设置在相邻测试台之间；以及驱动测试接触器的电气触点以结合维护部件，以便于自动地清洁电气触点和/或核验那里的导电性。

参阅后附的描述本发明实施例的附图，随后来详细描述本发明是很方便的。附图和相关的描述不能理解成是对本发明的限制，本发明的特点限定在权利要求书中。

附图说明

现在结合附图，并参考本发明较佳实施例的详细描述将会容易地理解本发明，其中。

图1所示为具有多个测试台的传统旋转转盘的立体示意图。