[发明专利]一种SIP芯片测试平台和方法

权利要求书

1.一种SIP芯片测试平台，其特征在于，至少包括一个电源控制模块，一个辅助测试基带，一个辅助测试射频，待测SIP芯片和一个连通控制模块，所述待测SIP芯片至少包括一个射频和一个基带，所述电源控制模块给所述辅助测试基带、辅助测试射频和待测SIP芯片供电，所述连通控制模块选择性地控制所述待测SIP芯片的射频与所述辅助测试基带之间的连通，所述待测SIP芯片的基带与所述辅助测试射频之间的连通，以及所述待测SIP芯片的射频与所述待测SIP芯片的基带的连通；所述辅助测试射频和所述待测SIP芯片射频为GNSS射频，所述辅助测试基带和所述待测SIP芯片基带为GNSS基带。

2.根据权利要求1所述的SIP芯片测试平台，其特征在于，所述电源控制模块通过控制所述辅助测试基带、所述辅助测试射频和所述待测SIP芯片的基带和射频的供电来控制其组合工作测试状态。

3.一种应用如权利要求1所述的测试平台测试SIP芯片的方法，其特征在于，所述方法包括，

第一步，待测SIP芯片工作，判断所述待测SIP芯片性能是否正常，是，则结束测试，否，则进入下一步；

第二步，将所述待测SIP芯片的射频与辅助测试基带组合工作，判断所述待测SIP芯片性能是否正常，否，则进入下一步，是，则将所述待测SIP芯片的基带通电工作，判断所述待测SIP芯片性能是否正常，否，则得出所述待测SIP芯片的基带工作影响所述待测SIP芯片性能的测试结果，结束测试，是，则进入下一步；

第三步，将所述待测SIP芯片的基带与辅助测试射频组合工作，判断所述待测SIP芯片性能是否正常，否，则得出所述待测SIP芯片的射频和基带工作都影响到所述待测SIP芯片性能的测试结果，结束测试，是，则将所述待测SIP芯片的射频通电工作，判断所述待测SIP芯片性能是否正常，是，则得出所述待测SIP芯片工作时，所述待测SIP芯片的射频和基带的连线对芯片性能有影响的测试结果，结束测试，否，则得出所述待测SIP芯片的射频工作影响到所述待测SIP芯片性能的测试结果，结束测试。