[发明专利]一种光纤熔接机的放电强度校正方法无效

专利信息
申请号: 201310042143.4 申请日: 2013-02-04
公开(公告)号: CN103969744A 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: 李楚元 申请(专利权)人: 大豪信息技术(威海)有限公司;(株)韩国一诺仪器株式会社
主分类号: G02B6/255 分类号: G02B6/255
代理公司: 上海金盛协力知识产权代理有限公司 31242 代理人: 段迎春
地址: 264200 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 光纤 熔接 放电 强度 校正 方法
【说明书】:

技术领域

本发明是光纤熔接机在熔接光纤时的放电强度校正方法,属于光电子及信息通信技术领域。

背景技术

光纤传输具有传输频带宽、通信容量大、损耗低、不受电磁干扰、重量轻等优点,因而光纤的应用越来越广泛,然而光在光纤中传输时会产生损耗,这种损耗主要是由光纤自身的传输损耗和光纤接头处的接续损耗组成。光纤接续的方法有多种,其中以熔接即用光纤熔接机熔接光纤时接头的接续损耗最低。光纤熔接时接头会有熔接损耗,熔接损耗过大不但造成大的经济损失,还会致光纤接头传输质量降低。光纤接头熔接损耗过大的原因有多种,如:光纤端面切割质量差,熔接机放电强度过高或过低,都可致光纤接头熔接损耗偏大。光纤接头熔接损耗与电极放电强度关系见附图1。理论上,每种型号的光纤熔接机都有一个推荐的对应最小光纤熔接损耗的最适宜放电强度,这一适宜放电强度在光纤熔接机上以两根光纤熔接后的轴向热熔回缩距离(标准范围D)来表示。在实际使用中,外界环境如温度、气压(海拔)、纬度、位置、光纤种类、电极更换对光纤熔接质量都有影响,因此,工作人员需要现场测试光纤熔接所需的最合适的放电强度。

目前校正光纤熔接机放电强度的方法有以下几种。其一如下,具体见附图2。

1、将带包覆层的两根光纤10同平面但不同轴放置,并测得D0,如图2A所示;

2、设定一放电电流x,并在此放电电流下熔接上述两根光纤10,且使熔接后的两根光纤有一定轴向偏置,并测得D1,如图2B;

3、设定不同放电电流x,重复步骤2,每次测得不同的光纤轴向偏置Dn,如图2C及图2D;

4、放电强度(y)用公式(Dn-Dn+1)/Dn表示,计算每个放电电流(x)对应的放电强度y,则可得函数y=f(x)。

用本方法则可得出光纤接头最小熔接损耗所对应的放电电流。

用以上方法所得出的光纤接头最小熔接损耗所对应的放电电流,很精确,但方法烦琐,尤其不适合野外作业。

下面介绍另一种光纤熔接机放电强度校正方法。

在光纤熔接机上将两根光纤同平面同轴固定,如图3所示,测得两根光纤10端面间距L1,再在光纤10固定的同时打开放电开关使电极高频放电致光纤10加热熔融,待光纤10冷却后测得两根光纤之间的间距L2,两根光纤端面由于表面张力的作用而退缩,因此间距L2大于L1,二次间距的变化值即(L2-L1)(也叫热熔回缩距离)与光纤熔接机所给出的标准范围D的比较,可用来检测和校正电极放电强度。

本方法由于图3A光纤端面在切割时的不平整,及其上不可避免地附着有杂质,而光纤端面杂质及端面不平整都可致光纤熔接损耗增大,因此,用此方法不能检测到与光纤接头最低熔接损耗相对应的放电强度。

好的光纤端面才能使接头具有低损耗。光纤端面不平滑例如端面带有楔形尖端、端面的凸球面、端面的缺破以及端面锯齿形和端面沾有污物,也会增加光纤接头的熔接损耗。

发明内容

本发明的目的是提供一种操作简便、效果精确的光纤熔接机的放电强度校正方法。

本发明的实现方法是,用光纤熔接机通过电弧放电的方法来校正放电强度,具体步骤为包括:

a、分别固定二根光纤并使其同轴相邻放置;

b、对两根光纤相邻端同时施加放电,致两根光纤相邻端热熔;

c、对上述熔融光纤头继续施加放电,其放电强度致两根光纤头冷却后的轴向热熔回缩量位于熔接机所给定的标准范围内,便获得在一个校正周期内的放电强度。

本发明一种光纤熔接机放电强度校正方法,由于采取了二次高频电弧放电加热方式,第一次放电采用较低强度的高频放电,使光纤端面稍平整,其目的是修正光纤端面角度减少光纤端面杂质,使两根光纤端面更平整更干净,从而为第二次放电加热找到合适的放电强度提供了更好条件;第二次放电加热的目的是测得合适放电强度。本发明极其简便,不需要烦琐的测量及计算,能较准确检测出光纤接头最低熔接损耗时的电极放电强度。本发明尤其适合野外作业,为光纤熔接机在野外使用提供了更好的校正放电强度的方法。本发明用简便方法提高光纤接头的熔接质量,有较大经济效益和重要的实际意义。

附图说明

图1是光纤接头熔接损耗与电极放电强度的关系;

图2是美国专利US6,294,760B1的实施例;

图3是光纤熔接机放电强度校正方法之一;

图4是本专利实施方式;

图5为本专利高压放电校准流程图;

图6为本专利高压放电校正的原理框图。

具体实施方式

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