[发明专利]低分辨率核磁共振分析仪测量定位器及应用

说明书

技术领域

本发明为一种核磁共振分析仪的配件装置，具体地说，是一种用于低分辨率核磁共振分析仪的配件装置及应用该装置测定样品核磁共振谱图的方法。

背景技术

核磁共振波谱是将核磁共振现象应用于分子结构测定的一门综合学科，它从物理原理出发，以电子技术和计算机技术作为手段，获取化学和生物学等各学科所需的图谱信息。核磁共振分析仪测定时，处在外磁场中的样品，在受到射频脉冲激发作用时，其原子核在其磁能级间发生共振跃迁，在物质与电磁波相互作用的过程中，通过采集电磁波被吸收的情况就可以得到样品的核磁共振谱图。

现有的核磁共振分析仪的操作频率从几十到几百兆赫不等，对于低分辨率核磁共振分析仪（分辨率为58MHz）来说，由于磁场较弱，很容易受到外界的干扰。因此用其对样品进行测定前，要随时通过匀场监测仪器的状态。匀场通过以下方式进行：首先将水样装入直径8mm、长30cm的玻璃管中，其次将玻璃管插入探头内，然后进行匀场操作，以使玻璃管所在位置范围内，磁场达到最大程度地均匀分布。而在测定样品时，需要将新的样品管插入探头内，但是由于探头与样品管之间存在空隙，无法每次将样品管位置与匀场时的位置保持一致，即不能保证两次测定时，样品管保持在同一中心轴上，只能通过操作者手动调节使其尽可能保护一致，这直接影响了核磁共振谱图的重复性，给实验带来了不可控的操作误差。另外，样品管为玻璃材质，与样品管帽，材质为聚四氟材料之间连接不紧密，仅靠样品管帽微小的弹性收缩卡住玻璃管，玻璃管很容易从管帽上脱落，掉入仪器的探头内，取出较麻烦，也影响了磁场的均匀性，需重新进行匀场。

发明内容

本发明的目的是提供一种低分辨率核磁共振分析仪测量定位器及用该定位器测定样品核磁共振谱图的方法，所述的定位器可固定测试样品管的放置位置，提高样品核磁共振谱图测定位置的一致性。

本发明提供的低分辨率核磁共振分析仪测量定位器包括固定管、定位卡槽和基座，所述的基座位于固定管外侧的一端，定位卡槽与基座相连，置于固定管外。

本发明提供的测量定位器，设有固定管和定位卡槽，通过定位卡槽可将固定管置于核磁共振仪测量探头内的同一位置，再将测定样品管置于固定管内，由于每次测定时，测量定位器均可放置于同一位置，可防止测量时样品管放置位置产生的偏差和振荡引起的测量偏差，提高样品核磁共振谱图测量位置的一致性，因而提高谱图测量准确性。

附图说明

图1为本发明方法所用低分辨率核磁共振分析仪的结构示意图。

图2为本发明定位器与核磁进样管的装配图。

图3为本发明定位器的剖面图。

图4为图3中A-A剖面的俯视图。

附图中标号表示部件如下：

1定位卡槽，2垫高部件，3基座，4固定管，5定位器，6探头，7样品管帽，8样品管，9磁体，10温度传感器，11连接在磁体上的传感器，12连接在外壳上的传感器，13匀场控制系统，14控制面板，15加热风扇，16空调控制系统。

具体实施方式

本发明提供的测量定位器设置有固定管和定位卡槽，定位卡槽可将定位器固定管固定于核磁共振分析仪探头内与探头轴心距离相同的位置，从而起到相对于核磁共振仪探头内管轴心定位的作用，同时，定位卡槽只卡在探头内管的部分区域，在测试样品需要提高磁场温度时，有利于内部加热风扇产生的加热风的流通，基座的设置避免了测试样品管从管帽上脱落掉入探头内的可能。本发明提供的定位器结构简单，用于测定核磁共振谱图操作方便，并可明显提高测量准确性。

为增加本发明所述测量定位器的散热功能，优选在定位卡槽和基座之间设置垫高部件。

本发明测量定位器的基座位于固定管外侧的一端，主要用于放置样品管，使样品管的管帽边缘搭在基座上，控制其在核磁共振分析仪探头内的高度。所述的基座形状可为任何形状，优选为中空圆柱形。

所述的定位卡槽与基座相连，可为与基座连续相连的环柱形，位于固定管的外侧，也可以是与基座间断相连的任意形状的柱形，分别位于固定管的两侧。当定位卡槽为与基座间断相连的柱形时，其截面优选呈扇形，分别位于固定管外两侧。

所述的垫高部件位于定位卡槽与基座之间，优选为与基座间断相连的、截面呈扇形的柱形，分别设置在固定管外两侧，并且垫高部件的截面扇形半径大于定位卡槽的截面扇形半径。

所述的定位卡槽两端的距离等于核磁共振分析仪探头内管的直径，以便定位卡槽卡在核磁共振仪探头内管管壁上。