[发明专利]一种基于涂覆微纳光纤进行温度测量的装置及方法

权利要求书

1.一种基于微纳光纤进行温度测量的装置，包括激光发生装置、经过材料涂覆的微纳光纤和信号光电探测器，所述的激光发生装置的输出端通过微纳光纤连接信号光探测器，微纳光纤所涂覆的材料的光学折射率实部小于微纳光纤的折射率实部，光学折射率虚部小于0。

2.根据权利要求1所述的一种涂覆基于微纳光纤进行温度测量装置，还包括用于将激光发生装置所发射的激光分路为两路的光纤耦合器和参考光探测器，所述的光纤耦合器的输入端连接激光发生装置，光纤耦合器的两个输出端的其中一个输出端连接微纳光纤后，再连接至信号光探测器，光纤耦合器的另一个输出端通过单模光纤连接至参考光探测器。

3.根据权利要求1所述的一种基于涂覆微纳光纤进行温度测量的装置，所述的激光发生装置包括激光器和光纤隔离器，所述的激光器的输出端经光纤隔离器连接至光纤耦合器的输入端。

4.根据权利要求1所述的一种基于涂覆微纳光纤进行温度测量的装置，所述的微纳光纤直径为1微米-10微米。

5.一种基于涂覆微纳光纤进行温度测量的方法，包括以下步骤：

步骤一：将直径为125微米的普通单模光纤拉制成为直径为1微米-10微米的微纳光纤，并用材料进行涂覆。

步骤二：将激光发生装置所发生的激光作为信号光连接微纳光纤；

步骤三：在微纳光纤后连接用于检测信号光强度的信号光探测器；

步骤四：激光发生装置产生激光，所产生的激光通过微纳光纤传输至信号光探测器，信号光探测器检测出激光在微纳光纤中传输由于涂覆材料吸收所减少的光能量；

步骤五：根据减少的光能量的多少，利用预先所得的温度标定结果来求得温度。

6.根据权利要求5所述的一种涂覆基于微纳光纤进行温度测量的方法，所述的步骤二还包括以下步骤：将激光发生装置首先连接光纤耦合器，将所发生的激光分成两路相同的激光，所分出的一路激光作为信号光连接微纳光纤，另一路激光作为参考光连接用于检测参考光强度的光电探测器。

7.根据权利要求5所述的一种涂覆基于微纳光纤进行温度测量的方法，所述的步骤四中，在信号光探测器检测信号光强度变化的同时，参考光探测器检测参考光的光强度变化，信号光探测器所检测出的结果除去参考光探测器所检测到的参考光的光强度变化即得到激光在微纳光纤中传输由涂覆材料吸收后所减少的光能量。

8.根据权利要求5所述的一种涂覆基于微纳光纤进行温度测量的方法，所述的激光发生装置包括激光器和光纤隔离器，激光器的输出端经光纤隔离器连接至光纤耦合器的输入端。