[发明专利]一种非极性p-NiO/n-ZnO异质结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201310038167.2 申请日: 2013-01-31
公开(公告)号: CN103137774A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 张宏海;吕斌;潘新花;叶志镇;吕建国;黄靖云 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: H01L31/109 分类号: H01L31/109;H01L31/0336;H01L31/18
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 韩介梅
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 极性 nio zno 结构 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1. 一种非极性p-NiO/n-ZnO异质结构,其特征是包括衬底(1)和生长在衬底上的非极性取向的pn结,所述的衬底为m面蓝宝石,pn结是自下而上依次生长在衬底(1)上的(100)取向的n型ZnO薄膜(2)和(100)取向的p型NiO薄膜(3)构成的异质pn结。

2. 制备权利要求1所述的非极性p-NiO/n-ZnO异质结构的方法,其特征在于包括以下步骤:

1)采用分子束外延法或者脉冲激光沉积法在经清洗的m面蓝宝石衬底上制备(100)取向的n型ZnO薄膜:

所述分子束外延法生长(100)取向的n型ZnO薄膜:以纯金属Zn和经射频活化的纯O2为生长源,衬底温度为500~750℃,Zn源炉温260~300℃,氧气流量为1~3 sccm;

所述脉冲激光沉积法生长(100)取向的n型ZnO薄膜:以纯ZnO陶瓷靶作为靶材,衬底温度为450~650℃,生长压强为0.02~2 Pa;

2)采用脉冲激光沉积法在(100)取向的n型ZnO薄膜上制备(100)取向的p型NiO薄膜:靶材是纯NiO陶瓷靶或者Li掺杂的NiO陶瓷靶,衬底温度为300~500 ℃,生长压强为0.5~10 Pa。

3. 根据权利要求2所述的非极性p-NiO/n-ZnO异质结构的制备方法,其特征在于:步骤1)中所述的纯金属Zn的纯度≥99.9998%,纯O2的纯度≥99.9999%,纯ZnO陶瓷靶的纯度≥99.999%;步骤2)中所述的纯NiO陶瓷靶的纯度≥99.99%。

4. 根据权利要求2所述的非极性p-NiO/n-ZnO异质结构的制备方法,其特征在于Li掺杂摩尔浓度为5%~15%。

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