[发明专利]一种非极性p-NiO/n-ZnO异质结构及其制备方法有效
申请号: | 201310038167.2 | 申请日: | 2013-01-31 |
公开(公告)号: | CN103137774A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 张宏海;吕斌;潘新花;叶志镇;吕建国;黄靖云 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | H01L31/109 | 分类号: | H01L31/109;H01L31/0336;H01L31/18 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 韩介梅 |
地址: | 310027 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 极性 nio zno 结构 及其 制备 方法 | ||
1. 一种非极性p-NiO/n-ZnO异质结构,其特征是包括衬底(1)和生长在衬底上的非极性取向的pn结,所述的衬底为m面蓝宝石,pn结是自下而上依次生长在衬底(1)上的(100)取向的n型ZnO薄膜(2)和(100)取向的p型NiO薄膜(3)构成的异质pn结。
2. 制备权利要求1所述的非极性p-NiO/n-ZnO异质结构的方法,其特征在于包括以下步骤:
1)采用分子束外延法或者脉冲激光沉积法在经清洗的m面蓝宝石衬底上制备(100)取向的n型ZnO薄膜:
所述分子束外延法生长(100)取向的n型ZnO薄膜:以纯金属Zn和经射频活化的纯O2为生长源,衬底温度为500~750℃,Zn源炉温260~300℃,氧气流量为1~3 sccm;
所述脉冲激光沉积法生长(100)取向的n型ZnO薄膜:以纯ZnO陶瓷靶作为靶材,衬底温度为450~650℃,生长压强为0.02~2 Pa;
2)采用脉冲激光沉积法在(100)取向的n型ZnO薄膜上制备(100)取向的p型NiO薄膜:靶材是纯NiO陶瓷靶或者Li掺杂的NiO陶瓷靶,衬底温度为300~500 ℃,生长压强为0.5~10 Pa。
3. 根据权利要求2所述的非极性p-NiO/n-ZnO异质结构的制备方法,其特征在于:步骤1)中所述的纯金属Zn的纯度≥99.9998%,纯O2的纯度≥99.9999%,纯ZnO陶瓷靶的纯度≥99.999%;步骤2)中所述的纯NiO陶瓷靶的纯度≥99.99%。
4. 根据权利要求2所述的非极性p-NiO/n-ZnO异质结构的制备方法,其特征在于Li掺杂摩尔浓度为5%~15%。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的