[发明专利]用于非等γ角CT系统中数据转换的方法和装置有效
| 申请号: | 201310037988.4 | 申请日: | 2013-01-31 |
| 公开(公告)号: | CN103961122B | 公开(公告)日: | 2018-07-31 |
| 发明(设计)人: | 李军;李硕;钟娟;董加勤;A.拉瓦特 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
| 主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 汤春龙;朱海煜 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 ct 系统 数据 转换 方法 装置 | ||
1.一种用于在CT系统中成像的方法,所述CT系统具有平面模块检测器阵列,所述平面模块检测器阵列包括多个平面模块,所述方法包括:
对目标进行CT扫描以获取扇形束投影数据;
获取所述平面模块检测器阵列的几何结构参数,所述几何结构参数包括平面模块的数量、各平面模块中检测器组的数量,各检测器组中检测器单元的数量以及当前检测器通道编号;
基于所述几何结构参数计算当前检测器通道和射线源间连线与X射线源和台架中心的连线(iso-ray)之间的夹角;
根据计算获得的夹角进行扇形束到平行束的数据重排,从而将所述扇形束投影数据转换为平行束投影数据;及
利用所述平行束投影数据来形成CT图像。
2.根据权利要求1中所述的方法,其中,所述数据重排包括:
基于所述几何结构参数进行扇形束到平行束的数据再采样,从而获得平行束投影数据与扇形束投影数据间的对应关系。
3.根据权利要求2中所述的方法,其中,所述数据再采样还利用CT扫描的设置参数。
4.根据权利要求3中所述的方法,其中,还包括:
基于所述数据再采样所获得的平行束投影数据与扇形束投影数据间的对应关系对所述扇形束投影数据进行内插。
5.根据权利要求2中所述的方法,其中,所述数据重排还包括:
对平行束投影数据进行等间距化,从而形成等间距平行束投影数据,
其中,通过对所述平行束投影数据进行等间距化,能够获得所述等间距平行束投影数据与等间距前的所述平行束投影数据间的对应关系。
6.根据权利要求5中所述的方法,其中,对所述平行束投影数据进行等间距化包括:
以预定间距对所述平行束投影数据进行等间距化。
7.根据权利要求5中所述的方法,其中,还包括:
基于等间距化所获得的等间距平行束投影数据与等间距前的所述平行束投影数据间的对应关系对所述平行束投影数据进行内插。
8.根据权利要求4或7中所述的方法,其中,
对所述扇形束投影数据进行内插采用的是6阶拉格朗日内插;和/或
对所述平行束投影数据进行内插采用的是4阶拉格朗日内插。
9.根据权利要求1-7中任一项所述的方法,其中,对目标进行CT扫描以获取扇形束投影数据包括:
在所述CT系统进行螺旋扫描时,将螺旋扫描所获得的扇形束投影数据插值成轴扫描数据。
10.根据权利要求1-7中任一项所述的方法,其中,基于滤波反投影重建算法,利用所述平行束投影数据来形成CT图像。
11.根据权利要求1-7中任一项所述的方法,其中,所述方法也适用于弧形检测器阵列。
12.一种用于在CT系统中成像的装置,所述CT系统具有平面模块检测器阵列,所述平面模块检测器阵列包括多个平面模块,所述CT系统对目标进行CT扫描以获取扇形束投影数据,所述装置包括:
参数获取部件,获取所述平面模块检测器阵列的几何结构参数,所述几何结构参数包括平面模块的数量、各平面模块中检测器组的数量,各检测器组中检测器单元的数量以及当前检测器通道编号;及
数据重排部件,用于基于所述几何结构参数计算当前检测器通道和射线源间连线与X射线源和台架中心的连线(iso-ray)之间的夹角并且根据计算获得的夹角进行扇形束到平行束的数据重排,以将所述扇形束投影数据转换为平行束投影数据;
其中,所述CT系统利用所述平行束投影数据来形成CT图像。
13.根据权利要求12中所述的装置,其中,所述数据重排包括:
基于所述几何结构参数进行扇形束到平行束的数据再采样,从而获得平行束投影数据与扇形束投影数据间的对应关系。
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