[发明专利]原子力显微镜配套用薄膜样品压缩装置

说明书

技术领域

本发明涉及原子力显微镜配套用薄膜样品压缩装置，具体涉及对其结构的改进。

背景技术

为了将对纳米材料和制品力学性能的测量和微观形貌的检测进行有机结合，原子力显微镜（AFM）等微纳米观察仪器要与一些力学测试装置配合使用，从而可以深入地探索各类纳米材料及制品的微观损伤断裂行为和机理，及其与载荷作用、材料结构和性能间的相关性规律。

现有一种跨尺度微纳米级原位压缩压缩力学性能测试装置，该发明有效的推动了原位纳米压缩测试装置的发展。但是尚存在以下局限性：此类设备对被测试样尺寸结构限制严格；制作较为复杂，包含力传感器、步进电机等等，因而制作费用较高，可能不能满足广大普通原子力显微镜用户需求。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明目的在于提供一种简易的原子力显微镜配套用薄膜样品压缩装置。

一种原子力显微镜配套用薄膜样品压缩装置，其特征在于，一基座设置有内凹槽，基座后部凹槽两侧设置有导轨；基座后端设置有螺纹孔，推进螺杆与螺纹孔螺纹连接； 

推进螺杆顶在右夹具上；右夹具位于导轨上，与导轨滑动连接；左夹具固定在基座的后部分凹槽内；

所述左夹具由盖板和底板组成；右夹具由盖板和底板组成；所述左夹具的盖板和底板通过螺栓固定连接；所述右夹具的盖板和底板通过螺栓固定连接。

本发明结构简单，操作容易，解决了对被测试样尺寸结构限制严格的问题，使用方便；另外降低了制作费用，能满足于广大普通原子力显微镜用户需求。

附图说明

附图1是本发明立体结构示意图。

附图2是图1的侧视图。

附图3是轨道结构剖视图。

1基座、11长方形通槽、12长方形通槽、13螺孔、14刻度、15凹槽、

2左夹具、21左夹具盖板、22 左夹具底板、

3导轨、

4右夹具、41右夹具盖板、42右夹具底板、

5推进螺杆、

6 L形紧固块、7测试样品台、8螺栓、9测试防震台。

具体实施方式

本发明的优选实施例结合附图说明如下：

一种原子力显微镜配套用薄膜样品压缩装置，一基座1设置有内凹槽15，基座后部凹槽两侧设置有导轨3；基座后端设置有螺纹孔13，推进螺杆5与螺纹孔螺纹连接； 

推进螺杆顶在右夹具4上；右夹具位于导轨上，与导轨滑动连接；左夹具2固定在基座的后部分凹槽内。轨道截面形状为上宽下窄，通过螺栓8与基座固定连接，右夹具卡在轨道上会脱离，可保证左夹具在所述导轨上水平滑行。

所述左夹具由盖板21和底板22组成；右夹具由盖板41和底板42组成；所述左夹具底板22的上平面一侧内凹形成一平面，供放置测试样品一端用；相对应所述右夹具底板42的上平面一侧内凹形成一平面，供放置测试样品另一端用。

所述左夹具的盖板和底板通过螺栓8固定连接；所述右夹具的盖板和底板通过螺栓8固定连接。

所述基座前部两侧壁上开有长形通槽12，左夹具底板通过长形通槽中的螺栓8固定，即将长形通槽12中的螺栓向里拧紧，从而固定左夹具。所述长形通槽12使得所述左夹具的固定位置具有一定自由度，从而可以通过调节左夹具固定位置而保证原子力显微镜测试区域为样品指定区域。

在所述基座一侧壁上设置有刻度14，可以读出左右夹具边缘处数值，从而计算出样品初始长度，压缩长度等。

在所述基座的四角部位设置有长形通槽11；有两块L形紧固块6，分别设置在基座的两端底部，螺栓8穿过基座上的长形通槽11与L形紧固块6固定连接。

长形通槽11因其长度可使螺栓在长形通槽内的固定位置具有一定的自由度，从而可以与不同型号原子力显微镜的不同大小的样品台连接。

本发明使用时，固定在测试样品台7上，测试样品台置于测试防震台9上。

本发明的目的是按以下方式实现的，将左夹具盖板和左夹具底板夹住样品一端，拧紧左夹具紧固螺栓，从而固定样品一端，将右夹具盖板和右夹具底板夹住样品另一端，拧紧右夹具紧固螺栓，从而固定样品另一端；调节左右夹具的相对位置，使样品的中心位置与原子力显微镜探针近似在同一垂直线上，从而保证原子力显微镜探针下针之后检测区域为样品中心区域。将左夹具紧固螺栓通过基座上的长方形通槽向里拧紧，从而固定左夹具，旋转推进螺杆，推动右夹具沿着导轨运动，进而压缩样品。