[发明专利]冲击吸收率测量装置

权利要求书

1.一种冲击吸收率测量装置，包括：

测量单元，该测量单元被配置为支撑冲击吸收构件并且测量所述冲击吸收构件的冲击吸收率；

在所述冲击吸收构件上的冲击转换构件，所述冲击吸收构件被堆叠在所述测量单元和所述冲击转换构件之间；和

降落构件，该降落构件被配置为降落在所述冲击转换构件的上表面上，所述冲击转换构件的所述上表面背向所述冲击吸收构件，

其中所述测量单元包括：

被配置为支撑所述冲击吸收构件的第一构件；

被配置为计算所述冲击吸收率的传感器；

被配置为支撑所述传感器的第二构件，所述传感器沿竖直方向位于所述第一构件和所述第二构件之间，以及

彼此分开的多个突起部分，所述多个突起部分从所述第二构件向所述第一构件延伸。

2.如权利要求1所述的冲击吸收率测量装置，其中所述多个突起构件彼此分开恒定间隔，所述传感器沿水平方向被放置在所述多个突起部分之间。

3.如权利要求2所述的冲击吸收率测量装置，其中所述多个突起部分沿所述第一构件的周边彼此分开以限定一轮廓，所述传感器在所述轮廓的中心。

4.如权利要求2所述的冲击吸收率测量装置，其中所述第一构件包括多个槽部分，所述多个突起部分被分别部分地插入所述多个槽部分中。

5.如权利要求2所述的冲击吸收率测量装置，进一步包括在所述第一构件的面对所述第二构件的表面上的多个接纳构件，所述多个突起部分被分别部分地插入到所述多个接纳构件中的槽中。

6.如权利要求1所述的冲击吸收率测量装置，其中所述传感器被配置为测量冲击功率和冲击时间，以便计算所述冲击吸收率。

7.如权利要求6所述的冲击吸收率测量装置，其中所述传感器被配置为根据下面的公式计算所述冲击吸收率：

$Ir=\frac{Ddt}{Idt}\×\{\frac{(Iif-Dif)}{Iif}\×100\}$

其中Ir为所述冲击吸收率，Ddt为当不设置所述冲击转换构件时测量的冲击时间，Idt为当设置所述冲击转换构件时测量的冲击时间，Iif为当不设置所述冲击转换构件时测量的冲击功率，并且Dif为当设置所述冲击转换构件时测量的冲击功率。

8.如权利要求1所述的冲击吸收率测量装置，其中所述冲击转换构件包括金属。

9.如权利要求1所述的冲击吸收率测量装置，其中所述降落构件具有被配置为从点向所述冲击转换构件施加冲击的形状。

10.如权利要求9所述的冲击吸收率测量装置，其中所述降落构件具有球形形状或半球形形状。

11.如权利要求1所述的冲击吸收率测量装置，进一步包括被配置为将所述降落构件临时固定在所述冲击吸收构件的上侧的固定构件。

12.如权利要求11所述的冲击吸收率测量装置，其中所述固定构件包括：

与所述测量单元垂直的竖直轴部分；

在所述测量单元的上侧被附接到所述竖直轴部分以便平行于所述测量单元的平行轴部分；和

被附接到所述平行轴部分并且固定所述降落构件的磁性部分。