[发明专利]MCU芯片检测方法和电路

权利要求书

1.一种MCU芯片检测电路，其特征在于，包括：控制电路、电压产生电路、采样电路；所述控制电路、所述电压产生电路和所述采样电路依次连接；所述控制电路与所述采样电路连接；

所述电压产生电路，用于在所述控制电路的控制下，经过所述采样电路向处于输出状态的被测MCU芯片的IO管脚提供测试信号，以使所述被测MCU芯片根据所述测试信号调整所述被测MCU芯片的IO管脚输出的电信号，所述测试信号为电压信号；

所述采样电路，用于对所述被测MCU芯片的IO管脚输出的电信号进行采样，获得第一电压采样值和第一电流采样值，将所述第一电压采样值和第一电流采样值提供给所述控制电路；

所述控制电路，用于控制所述电压产生电路通过所述采样电路向所述被测MCU芯片的IO管脚提供所述测试信号；以及接收所述采样电路提供的所述第一电压采样值和第一电流采样值，并根据所述第一电压采样值和第一电流采样值，获得所述被测MCU芯片的IO管脚输出的电压和电流的对应关系。

2.根据权利要求1所述的MCU芯片检测电路，其特征在于，所述电压产生电路包括：第一数模转换电路和第一放大电路；所述第一数模转换电路与所述第一放大电路连接；

所述第一数模转换电路，用于接收所述控制电路发送的数字测试信号，将所述数字测试信号转换为模拟测试信号；

所述第一放大电路，用于对所述模拟测试信号进行放大处理，获得所述测试信号，并通过所述采样电路将所述测试信号提供给所述被测MCU芯片的IO管脚。

3.根据权利要求2所述的MCU芯片检测电路，其特征在于，所述第一数模转换电路具体用于接收所述控制电路发送的所述数字测试信号，将所述数字测试信号转换为多路模拟测试信号；

所述第一放大电路具体用于对所述多路模拟测试信号进行放大处理，获得多路所述测试信号，并通过所述采样电路将多路测试信号中的每路测试信号分别提供给所述被测MCU芯片的一个管脚。

4.根据权利要求2所述的MCU芯片检测电路，其特征在于，还包括：

通道选择电路，与所述控制电路连接，用于在所述控制电路的控制下，控制所述采样电路与所述被测MCU芯片的IO管脚中的一个IO管脚连接；

所述电压产生电路具体用于通过所述通道选择电路向所述被测MCU芯片上与所述采样电路连接的管脚提供所述测试信号。

5.根据权利要求1所述的MCU芯片检测电路，其特征在于，

所述电压产生电路还用于在所述控制电路的控制下，通过所述采样电路向处于输入状态的被测MCU芯片的IO管脚提供所述测试信号；

所述采样电路还用于向所述被测MCU芯片的IO管脚提供所述测试信号以使所述被测MCU芯片确定所述测试信号的电平值，并对所述测试信号进行采样，获得第二电压采样值，将所述第二电压采样值提供给所述控制电路；

所述控制电路还用于控制所述电压产生电路通过所述采样电路向所述被测MCU芯片的IO管脚提供所述测试信号；查询所述被测MCU芯片，获取所述被测MCU芯片确定的所述测试信号的电平值，以及接收所述采样电路提供的所述第二电压采样值，并根据所述第二电压采样值和获取的所述电平值，获得所述被测MCU芯片的IO管脚所支持的所述电平值的电压范围。

6.根据权利要求1-5任一项所述的MCU芯片检测电路，其特征在于，还包括：

数字可调电源电路，与所述控制电路连接，用于在所述控制电路的控制下向所述被测MCU芯片的电源管脚提供工作电压。

7.根据权利要求6所述的MCU芯片检测电路，其特征在于，所述数字可调电源电路包括：

第二数模转换电路，用于接收所述控制电路发送的数字信号，将所述数字信号转换为模拟信号；

第二放大电路，用于对所述模拟信号进行放大处理，获得第一工作电压信号，向所述被测MCU芯片的第一电源管脚提供所述第一工作电压信号；

第三放大电路，用于对所述模拟信号进行放大处理，获得第二工作电压信号，向所述被测MCU芯片的第二电源管脚提供所述第二工作电压信号。

8.根据权利要求6所述的MCU芯片检测电路，其特征在于，

所述控制电路还用于查询所述被测MCU芯片是否处于正常运行状态，若否，记录所述数字可调电源电路向所述被测MCU芯片的电源管脚提供的工作电压。