[发明专利]晶体硅太阳能电池的浅浓度扩散工艺在审
申请号: | 201310036297.2 | 申请日: | 2013-01-31 |
公开(公告)号: | CN103151421A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
发明(设计)人: | 李宇中 | 申请(专利权)人: | 青海聚能电力有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 810000 青海*** | 国省代码: | 青海;63 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶体 太阳能电池 浓度 扩散 工艺 | ||
1.晶体硅太阳能电池的浅浓度扩散工艺,其特征在于:所述工艺包括以下步骤:
A、采用导电类型为P型的硅片原料,制备绒面、清洗并甩干;
B、氧化:在温度780℃-785℃条件下通入流量为8-10slm的N2及3-5slm的O2,并将清洗干净的硅片进入到扩散管中进行氧化,得到20-25nm厚的氧化层,即SiO2;
C、沉积:待氧化完成后,继续通入流量为8-10slm的N2、1.2-1.5slm的O2及0.5-0.6slm携带有扩散源-POCl3的N2的混合气体进行P沉积,硅片在温度780-785℃气氛中与O2、POCl3发生化学反应,生产磷、五氯化磷、五氧化二磷、氯气,时间为300-360s,主要反应方程式如下:
Si+O2=SiO2
5POCl3=P2O5+3PCl5(高温)
4PCl5+5O2=2P2O5+10Cl2(高温)
2P2O5+5Si=4P+5SiO2;
D、恒温推进:温度提升到805℃,继续通入流量为8-10slm的N2、1.2-1.5slm的O2及0.5-0.6slm携带有扩散源-POCl3的N2的混合气体进行推进,使之前沉积的P更均匀地分布在硅片上,推进时间为20-30min,注意整个扩散工艺过程中,控制携源N2的流量不超过0.6slm,化学反应原理同C;
E、D步骤完成后继续通入流量为3-5slm的O2以便与未消耗完的PCl5继续反应,还可以防止未反应完的化学品逸散到工作区域,对操作人员造成危害,并降温至780-785℃,时间为500-600s;
F、出舟、冷却:等扩散后的硅片冷却到室温,测试合格后卸片,流入下道工序;
G、经过以上步骤,得到扩散后的硅片,硅片表面方块电阻为85-90Ω/□。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的