[发明专利]一种传感器系统批量测试校准的单总线电路接口

说明书

本发明公开了一种传感器系统批量测试校准的单总线电路接口，其包括以下方面：（1）传感器系统作为从设备连接在同一单总线上；（2）单总线上有一个主设备；（3）传感器设备作为从设备在单总线上具有不同的地址；（4）传感器设备作为从设备在单总线上不能主动发起对话，对话由单总线的上的唯一主设备发起；（5）在从设备接收信息时，从设备需要同步到主设备的传输速率上；（6）主设备接收信息时，主设备需要同步到从设备的传输速率上；（7）从设备的传输速率可以不同；（8）每个传输周期的位包括三个含义：逻辑1，逻辑0，控制位。

技术领域

本发明涉及一种总线接口，特别是传感器批量测试校准时候用的单总线电路接口。

背景技术

传统的传感器系统校准需要对每个系统单独校准，这就使得批量化和大规模生产难以开展；随着I2C总线的应用，批量校准成为可能，但在很多传感器系统中，I2C需要两根总线，对现有的系统不能很好的兼容，为了解决这个问题，本发明提出了一种单总线的接口，特别适合传感器批量测试校准和大规模生产。

发明内容

鉴于目前技术缺陷，为解决上述问题，本发明提出了一种传感器系统批量测试校准的单总线电路接口。其目的在于利用一根总线进行传感器系统的批量测试校准，简化了传感器系统的接口，特别适合传感器批量测试校准和大规模生产。

根据本发明的目的，本发明公开了一种传感器系统批量测试校准的单线电路接口，其特征在于，包括以下方面：

（1）传感器系统作为从设备连接在同一单总线上；

（2）单总线上有一个主设备；

（3）传感器设备作为从设备在单总线上具有不同的地址；

（4）传感器设备作为从设备在单总线上不能主动发起对话，对话由单总线的上的唯一主设备发起；

（5）在从设备接收信息时，从设备需要同步到主设备的传输速率上；

（6）主设备接收信息时，主设备需要同步到从设备的传输速率上；

（7）从设备的传输速率可以不同；

（8）每个传输周期的位包括三个含义：逻辑1，逻辑0，控制位。

附图说明

结合附图，可以更清楚的了解本发明的目的、特性及其他优点。

图1为主从设备结构。

图2为传输周期逻辑电平含义。

具体实施方式

下面，将参照附图对本发明的的优选实施例进行详细说明。提供以下优选实施例只是为了更好的理解本发明。因此本发明并不局限于这些优选实施例，在不背离所附权利要求书中所披露的本发明范围与精神条件下，可以对这些优选实施例进行修改。

图1为主从设备结构如图1所示，本发明包括以下方面：

（1）传感器系统作为从设备连接在同一单总线上；

（2）单总线上有一个主设备；

（3）传感器设备作为从设备在单总线上具有不同的地址；

（4）传感器设备作为从设备在单总线上不能主动发起对话，对话由单总线的上的唯一主设备发起；

（5）在从设备接收信息时，从设备需要同步到主设备的传输速率上；

（6）主设备接收信息时，主设备需要同步到从设备的传输速率上；

（7）从设备的传输速率可以不同；

（8）每个传输周期的位包括三个含义：逻辑1，逻辑0，控制位，如图2所示。