[发明专利]电机的无传感器控制设备及其控制方法无效
申请号: | 201310031348.2 | 申请日: | 2013-01-28 |
公开(公告)号: | CN103227600A | 公开(公告)日: | 2013-07-31 |
发明(设计)人: | 尹泳斗;金长焕;成正铉 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H02P6/18 | 分类号: | H02P6/18 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 张川绪;罗延红 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电机 传感器 控制 设备 及其 方法 | ||
1.一种电机的无传感器控制设备,所述设备包括:
位置估计器,被配置为根据电机的温度来补偿电机的电阻和电机的永磁体的磁通量,并被配置为基于补偿的电阻和补偿的永磁体的磁通量来产生电机的转子的估计速度;
速度控制器,被配置为基于转子的命令速度和转子的估计速度来产生命令电流。
2.如权利要求1所述的设备,其中,位置估计器还被配置为测量根据电机的温度而改变的电机的电阻值,所述位置估计器还被配置为基于测量的电阻值来估计电机的温度,所述位置估计器还被配置为基于估计的温度来估计永磁体的磁通量值。
3.如权利要求2所述的设备,其中,位置估计器还被配置为通过预先在多个温度测量电阻值,来估计根据电机的温度的电阻值的改变。
4.如权利要求3所述的设备,其中,根据电机的温度的电阻值的改变对应于电阻的温度系数。
5.如权利要求2所述的设备,其中,位置估计器还被配置为通过永磁体的剩余磁通量的温度特征,来估计基于估计的温度的永磁体的磁通量值的改变。
6.如权利要求5所述的设备,其中,基于估计的温度的永磁体的磁通量值的改变对应于电机的永磁体的剩余磁通密度的温度系数。
7.如权利要求2所述的设备,其中,位置估计器还被配置为通过输入到电机的电压与电流之间的关系来测量电机的电阻值。
8.如权利要求2所述的设备,还包括:
坐标转换器,被配置为基于转子的估计位置来转换检测电流的坐标系;
其中,位置估计器还被配置为基于转子的估计速度来产生转子的估计位置。
9.如权利要求8所述的设备,包括:
电流控制器,被配置为基于命令电流和转换了坐标系的检测电流来产生命令电压。
10.一种电机的无传感器控制方法,所述方法包括:
根据电机的温度来补偿电阻和电机的永磁体的磁通量;
基于补偿的电阻和补偿的永磁体的磁通量来产生电机的转子的估计速度;
基于转子的命令速度和转子的估计速度来产生命令电流。
11.如权利要求10所述的方法,还包括:
基于转子的估计速度来产生转子的估计位置;
基于转子的估计位置来转换检测电流的坐标系;
基于命令电流和转换了坐标系的检测电流来产生命令电压。
12.如权利要求11所述的方法,其中,根据电机的温度来补偿电阻和电机的永磁体的磁通量的步骤包括:
测量根据电机的温度而改变的电阻值;
基于测量的电阻值来估计电机的温度;
基于估计的电机的温度来估计电机的永磁体的磁通量值。
13.如权利要求12所述的方法,其中,根据电机的温度来补偿电阻和电机的永磁体的磁通量的步骤包括:
通过预先在多个温度测量电阻值,来估计根据电机的温度的电阻值的改变。
14.如权利要求12所述的方法,其中,根据电机的温度来补偿电阻和电机的永磁体的磁通量的步骤包括:
根据电机的永磁体的剩余磁通密度的温度特征,来估计基于估计的温度的电机的永磁体的磁通量的改变。
15.如权利要求12所述的方法,其中,根据电机的温度来补偿电阻和电机的永磁体的磁通量的步骤包括:
通过输入到电机的电压和电流之间的关系来测量电阻值。
16.一种电机的无传感器控制设备,所述设备包括:
估计器,被配置为基于根据电机的温度而被补偿的电机的电阻和根据电机的温度而被补偿的电机的永磁体的磁通量,来估计电机的转子的速度;
第一控制器,被配置为基于转子的命令速度和估计的转子的速度产生命令电流。
17.如权利要求16所述的设备,其中,位置估计器还被配置为估计电机的转子的位置。
18.如权利要求16所述的设备,还包括:
坐标转换器,被配置为基于估计的转子的位置来转换检测电流的坐标系;
其中,估计器被配置为基于估计的转子的速度来产生转子的估计位置。
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