[发明专利]金相试样抛光机附件

说明书

技术领域

本发明涉及一种金相试样抛光机，特别是一种金相试样抛光机附件。

背景技术

在理工类大学里，机械、冶金等专业的学生一般都要做一些金属材料金相组织观察和分析的实验。在做这类实验的时候，学生要把金相试样放在抛光机上抛光，经过腐蚀后放在金相显微镜下观察试样的金相组织。抛光试样的时候，在一台抛光机上一般都是两三个人同时操作，每人拿一块试样，最多也不能超过四个人。也就是说在一台抛光机上一次最多只能抛光四个试件。而且对于学生来讲，在操作上都是新手，没有经验，抛光时容易使试件划伤抛光织物，使抛光织物过早报废。

发明内容

本发明的目的在于解决在抛光机上同时抛光试件的数量少的问题问题，从而提供一种金相试样抛光机附件。

解决以上问题所采用的技术方案是：

一种金相试样抛光机附件，包括底板，立杆，滑板，挡环，厚壁套，支承套，砝码，所述立杆的底端与抛光机的台面连接，立杆的上端与底板连接，底板上设有中心孔和安装孔，安装孔置于底板的圆周上，安装孔内装有滚动体；

所述环形把手通过立撑与滑板连接，滑板的中心孔上装有厚壁套，厚臂套上均布设置有数个安装套，安装套的下端装有金相试样，金相试样与抛光机上的抛光织物相接触；金相试样上方设有连接套，所述连接套的下端置于安装套内，连接套与安装套之间设有间隙；连接套通过弹簧与金相试样连接；连接套上端套装有支承套，支承套的上方支承有砝码；滑板的下表面与所述滚动体相接触。

采用上述技术方案的本发明与现有技术相比，厚臂套上均布设置数个安装套，安装套下端装有金相试样，解决了同时抛光件数多的问题，并且操作简单，对操作者没有技术上的要求，因而降低了抛光成本。

本发明的优选方案是：

所述底板的四周设有连接爪，立杆通过连接块与底板上的连接爪连接。

安装孔内通过滚珠座装有滚动体；滚珠座呈阶梯状结构，一端置于安装孔内，另一端上设有滚动体嵌入孔。

所述滑板下方装有挡环。

所述挡环设置为三个，呈120度均布安装于滑板的下表面。

所述连接套下端装有堵块，堵块与弹簧连接。

所述安装套设置为十个，均布于厚壁套上。

所述滑板上设有透孔。

所述砝码上设有中间孔。

所述滚珠座设置为三个，均布于底板上。

所述滚动体是滚珠。

附图说明

图1是本发明的结构示意图。

图2是图1的A-A剖视图（不包含台面4）。

图3是图1中的B-B剖视图（不包含抛光机零件）。

图4是图1中的C-C断面图。

图5是图1中的D-D断面图。

图6是图3中的E-E（F-F）断面图（局部）。

图7是图3中的G-G断面图（局部）。

具体实施方式

下面结合附图及实施例详述本发明：

一种金相试样抛光机附件，参见附图1至附图7，图中：电机1、抛盘2、抛光织物3、台面4、套圈5、水池6、防护罩7（以上序号1、2、3、5、6、7是属于抛光机上的零部件）、立杆8、金相试样9、弹簧10、连接块11、螺母12、底板13、挡环14、螺钉15、螺钉16、滑板17、滚珠座18、滚珠19、安装套20、厚壁套21、堵块22、支承套23、连接套24、第一砝码25、第二砝码26、立撑27、立撑28、环形把手29、透孔30。

本实施例中，立杆8的底端与抛光机的台面4连接，抛盘2与电机1同轴连接，抛盘2上表面支承抛光织物3，抛光织物3被套圈5限制在抛盘2上，水池6上装有防护罩7。

立杆8的上端装有连接块11，连接块11通过螺母12装在立杆8的上端，连接块11通过螺钉15与底板13连接，底板13上设有中心孔和安装孔，安装孔均布于底板13上，安装孔内通过滚珠座18装有滚动体，滚动体是滚珠19；滚珠座18呈阶梯状结构，一端置于安装孔内，另一端上设有滚珠嵌入孔。