[发明专利]控制光学膜片厚度的系统和方法

权利要求书

1.一种控制光学膜片厚度的系统，用在卷对卷装置中以控制光学膜片的厚度，所述卷对卷装置包括相对的成型轮和压轮，所述光学膜片位于所述成型轮和压轮之间，所述系统包括：

检测单元，检测光学膜片的当前厚度；

处理单元，比较所述检测单元检测到的当前厚度和一目标厚度，根据所述当前厚度和目标厚度的关系计算所述压轮施加在所述成型轮上的压力；以及

调整单元，在所述处理单元的控制下调整所述压轮施加在所述成型轮上的压力。

2.如权利要求1所述的控制光学膜片厚度的系统，其特征在于，所述检测单元为激光传感器。

3.如权利要求2所述的控制光学膜片厚度的系统，其特征在于，所述卷对卷装置包括带动所述光学膜片运动的导轮，所述激光传感器为两个，分别位于所述导轮的两端。

4.如权利要求2所述的控制光学膜片厚度的系统，其特征在于，所述激光传感器为红光反射式传感器。

5.如权利要求1所述的控制光学膜片厚度的系统，其特征在于，所述卷对卷装置进一步包括一气缸，所述调整单元调整所述气缸施加在所述压轮上的推力以调整所述压轮和成型轮之间的压力。

6.一种控制光学膜片厚度的方法，用在卷对卷装置中以控制光学膜片的厚度，所述卷对卷装置包括相对的成型轮和压轮，所述光学膜片位于所述成型轮和压轮之间，所述方法包括：

获取光学膜片的当前厚度；

将所述当前厚度与一目标厚度比较，判断当前厚度与所述目标厚度的关系；

如果所述当前厚度大于所述目标厚度，增加所述压轮施加在所述成型轮上的压力以使光学膜片的厚度减小；

如果所述当前厚度小于所述目标厚度，减小所述压轮施加在所述成型轮上的压力以使光学膜片的厚度增大；

重复上述过程直至生产过程结束。

7.如权利要求6所述的控制光学膜片厚度的方法，其特征在于，利用激光传感器获取所述当前厚度。

8.如权利要求6所述的控制光学膜片厚度的方法，其特征在于，所述卷对卷装置包括一气缸，所述气缸提供所述压轮施加在所述成型轮上的压力，调整所述气缸提供的压力以改变所述压轮施加在所述成型轮上的压力。