[发明专利]3nm-20μm气溶胶粒径分布测量仪有效

专利信息
申请号: 201310027219.6 申请日: 2013-01-23
公开(公告)号: CN103105350A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 蒋靖坤;刘洁琼;邓建国;王书肖;吴烨;段雷;刘欢;郝吉明 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 黄家俊
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: nm 20 气溶胶 粒径 分布 测量仪
【权利要求书】:

1.一种3nm-20μm气溶胶粒径分布测量仪,其特征在于,所述的3nm-20μm气溶胶粒径分布测量仪结构如下:

采样管(1)通过管路分别与空气动力学颗粒物粒径谱仪(2)和颗粒物荷电器(3)连接;颗粒物荷电器(3)的另一端分成两支管路,分别与第一个层流流量计(4)和第二个层流流量计(6)连接;亚微米颗粒物差分电迁移率分析仪(5)通过管路分别与第一个层流流量计(4)和亚微米颗粒物凝聚核粒子计数器(8)连接,同时通过管路和高压电导线与电压/流量控制箱(11)连接;纳米颗粒物差分电迁移率分析仪(9)通过管路分别与第二个层流流量计(6)和纳米颗粒物凝聚核粒子计数器(10)连接,同时通过管路和高压电导线与电压/流量控制箱(11)连接;数据采集卡(12)通过导线分别与空气动力学颗粒物粒径谱仪(2)、亚微米颗粒物凝聚核粒子计数器(8)、纳米颗粒物凝聚核粒子计数器(10)、电压/流量控制箱(11)以及测量控制系统(7)连接。

2.根据权利要求1所述的3nm-20μm气溶胶粒径分布测量仪,其特征在于,所述的采样管1的材质为金属或导电塑料。

3.根据权利要求1所述的3nm-20μm气溶胶粒径分布测量仪,其特征在于,所述的颗粒物荷电器(3)为X射线荷电器、电晕法荷电器或含有放射性物质的荷电器。

4.根据权利要求1所述的3nm-20μm气溶胶粒径分布测量仪,其特征在于,所述的空气动力学颗粒物粒径谱仪(2)是基于飞行时间测量颗粒物空气动力学粒径的仪器。

5.根据权利要求1所述的3nm-20μm气溶胶粒径分布测量仪,其特征在于,所述的纳米颗粒物差分电迁移率分析仪(9)利用外加电场来选择不同电迁移率的颗粒物,其筛分的颗粒物的粒径范围为3nm到60nm。

6.根据权利要求1所述的3nm-20μm气溶胶粒径分布测量仪,其特征在于,所述的亚微米颗粒物差分电迁移率分析仪(5)筛分的颗粒物的粒径范围为20nm到750nm。

7.根据权利要求1所述的3nm-20μm气溶胶粒径分布测量仪,其特征在于,所述的纳米颗粒物凝聚核粒子计数器(10)通过冷凝增长和激光探测测量颗粒物的数量,测量粒径为3nm以上的颗粒物。

8.根据权利要求1所述的3nm-20μm气溶胶粒径分布测量仪,其特征在于,所述的亚微米颗粒物凝聚核粒子计数器(8)测量20nm以上的颗粒物。

9.根据权利要求1所述的3nm-20μm气溶胶粒径分布测量仪,其特征在于,所述的数据采集卡(12)含有多路计数通道、多路模拟输入通道和多路模拟输出通道,能同步采集空气动力学颗粒物粒径谱仪(2)、纳米颗粒物凝聚核粒子计数器(10)和亚微米颗粒物凝聚核粒子计数器(5)的脉冲信号,并将这些信号输入测量控制系统(7)。

10.根据权利要求1所述的3nm-20μm气溶胶粒径分布测量仪,其特征在于,所述的测量控制系统(7)用来控制电压/流量控制箱(11)的分级电压输出和鞘气流量,以及处理和分析数据采集卡(12)输入的脉冲信号,计算颗粒物的传输效率、荷电效率、分离效率和计数效率,输出3nm到20μm范围内颗粒物粒径分布谱图,并存储粒径分布数据。

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