[发明专利]一种对光纤阵列或芯片进行角度测量的装置及方法

权利要求书

1.一种对光纤阵列或芯片进行角度测量的装置，其特征在于该装置包括：

三维反光镜调准系统，与载物平台固定，反光镜通过三维反光镜调准系统的三个方向调准后，载物平台及其上的光纤阵列FA或芯片被测物的位置即可确定；

四维LED光源调整系统，与LED光源系统固定，LED光源系统通过四维LED光源调整系统进行四个方向调准以使得当从光源系统发出的光通过与水平面垂直的反光镜反射后的光点能够进入光源孔内；其中LED光源系统的光源为点光源或线光源；

屏幕表格，预先计算并且在屏幕表格上标记了各光点位置所对应的光纤阵列或芯片的角度值，当LED光源系统为点光源时屏幕表格所显示的光点位置与预先标记的光点位置重合即可计算对应的角度值。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：所述光纤阵列FA或芯片具有微小角度端面的光器件。

3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于：当LED光源系统光源为线光源时，预先在屏幕表格上设置标准角度光纤阵列FA或芯片的投影光线作为中间标准线，斜度第一阈值角度的光纤阵列FA或芯片的投影光线作为上公差标准线，斜度第二阈值角度的光纤阵列FA或芯片的投影光线作为下公差标准线；通过判断投影光线是否在上下公差标准线内来进行检测。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于：所述第一阈值为斜度8.3，第二阈值为斜度7.7。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于：所述预先计算是指屏幕光点与反射光角度对应，反射光角度又与被测物角度有1/2的对应关系。

6.一种对光纤阵列或芯片进行角度测量的方法，其特征在于该方法包括：

步骤（1）反光镜通过三维反光镜调准系统的三个方向调准后，确定载物平台及其上的光纤阵列FA或芯片被测物的位置；

步骤（2）LED光源系统通过四维LED光源调整系统进行四个方向调准以使得当从光源系统发出的光通过与水平面垂直的反光镜反射后的光点能够进入光源孔内；其中LED光源系统的光源为点光源或线光源；

步骤（3）预先计算并且在屏幕表格上标记了各光点位置所对应的光纤阵列或芯片的角度值；

步骤（4）当LED光源系统为点光源时屏幕表格所显示的光点位置与预先标记的光点位置重合即可计算对应的角度值。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于：所述光纤阵列FA或芯片具有微小角度端面的光器件。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于：当LED光源系统光源为线光源时，预先在屏幕表格上设置标准角度光纤阵列FA或芯片的投影光线作为中间标准线，斜度第一阈值角度的光纤阵列FA或芯片的投影光线作为上公差标准线，斜度第二阈值角度的光纤阵列FA或芯片的投影光线作为下公差标准线；通过判断投影光线是否在上下公差标准线内来进行检测。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于：所述第一阈值为斜度8.3，第二阈值为斜度7.7。

10.根据权利要求6所述的方法，其特征在于所述预先计算是指屏幕光点与反射光角度对应，反射光角度又与被测物角度有1/2的对应关系。