[发明专利]信号量测电路有效
| 申请号: | 201310025620.6 | 申请日: | 2013-01-23 |
| 公开(公告)号: | CN103308758A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
| 发明(设计)人: | 张钦富 | 申请(专利权)人: | 禾瑞亚科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R19/257 | 分类号: | G01R19/257 |
| 代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人: | 寿宁 |
| 地址: | 中国台湾台北市*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 信号量 电路 | ||
技术领域
本发明涉及一种信号量测电路,特别是涉及一种跨集成电路内的信号量测电路。
背景技术
请参阅图1所示,是侦测电容式触摸屏的电路示意图。在驱动电极Tx1被提供一交流的驱动信号时,与驱动电极Tx1交叠的感测电极Rx1、Rx2会与驱动电极Tx1间产生电容性耦合。感测电极Rx1、Rx2可以是分别经由模拟前端电流量测电路转换成输出电压V’、V’’,输出电压V’与V’’与参考电阻R的阻值相关。由于相邻的感测电极受到的背景干扰相近,因此将相邻的一对感测电极的信号相减可以有效地将共模噪声(common mode noise)抵消,以提高信噪比(signal/noise ratio)。因此,输出电压V’与V’’可以是分别经由模拟转数字电路转换成输出电压V’与V’’的数字信号,再进行相减,以数字相减的方式产生输出电压V’与V’’的差的一数字信号。输出电压V’与V’’也可是经由模拟转数字电路作为减法器转换成输出电压V’与V’’的差的一数字信号,亦即以模拟相减的方式产生。
为了有效地降低干扰,全部的感测电极的信号需要被同时接收,才能同时去除共模噪声的干扰。因此,每一条感测电极的信号耦合于集成电路(IC)的一接脚。由于集成电路用来与感测电极耦合的接脚数量是固定的,因此当触摸屏尺寸较大时,感测电极的数量可能会超过单一集成电路用来与感测电极耦合的接脚数量,而必需串联多个集成电路。
请参阅图2所示,是两个侦测电容式触摸屏的电路的连接示意图。当两个集成电路串联时,会造成一对相邻的感测电极的信号是由不同的集成电路产生。每一个集成电路都会有各自的工艺变异,虽然相同的元件是用相同的设计,但制造出来的元件会有差异。例如,相同的电阻是以相同的阻值设计,但制造后的实际阻值可能因工艺差异而不同,进而影响到相关的信号。
例如,依据输入电流I’产生的输出电压V’与参考电阻R’的阻值相关,并且依据输入电流I”产生的输出电压V’’与参考电阻R”的阻值相关,其中参考电阻R’与R”都是以相同的阻值设计。在图1的范例中,输出电压V’与V’’是在相同集成电路中产生,输出电压V’与V’’的差为Vd。假设第一集成电路IC1与第二集成电路IC2存在工艺变异,造成参考电阻R’的阻值为参考电阻R”的阻值的常数k倍,则输出电压V’与V’’的差将不为Vd,产生误差。误差会随着工艺变异的程度而改变,造成难以掌握或修正。
由此可见,上述现有技术显然存在有不便与缺陷,而极待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题,相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道,但长久以来一直未见适用的设计被发展完成,而一般产品又没有适切的结构能够解决上述问题,此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新的信号量测电路,实属当前重要研发课题之一,亦成为当前业界极需改进的目标。
发明内容
本发明的目的在于,克服现有的相同设计的集成电路可能因工艺变异产生差异,当需要依据不同集成电路的信号来运算时,工艺变异可能会造成严重误差的缺陷,而提出一种新的跨集成电路内的信号量测电路,所要解决的技术问题是其能够使得第一个集成电路输入至第二个集成电路的信号能随第二个集成电路与第一个集成电路间的工艺差异自动修正,非常适于实用。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种信号量测电路,包括:一第一电流转电压电路,依据一第一输入电流转换成一第一电压并且第一电压与一第一电阻值成正比;一第二电流转电压电路,依据一第二输入电流转换成一第二电压并且第二电压与一第二电阻值成正比;以及一阻值转移电路,依据第一电压输出一第三电压,其中第一电阻值/第二电阻值=第一电压/第三电压。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的信号量测电路,其中所述第一电流转电压电路与第二电流转电压电路分别位于不同的集成电路,第一电阻值与第二电阻值以相同阻值设计。
前述的信号量测电路,其中所述阻值转移电路的一第一部分与第一电流转电压电路位于相同集成电路,并且阻值转移电路的的一第二部分与第二电流转电压电路位于相同集成电路。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于禾瑞亚科技股份有限公司,未经禾瑞亚科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310025620.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





