[发明专利]强磁材料动态微磁结构观测装置及观测方法有效

专利信息
申请号: 201310022669.6 申请日: 2013-01-21
公开(公告)号: CN103091513A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 方以坤;李卫;孙威;朱明刚;郭朝晖;潘伟 申请(专利权)人: 钢铁研究总院
主分类号: G01Q60/50 分类号: G01Q60/50
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 张军;张川绪
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 材料 动态 结构 观测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种强磁材料动态微磁结构观测装置,包括磁力显微镜,其特征在于,所述观测装置是由软磁材料构成的长方体组成,所述长方体上设置有凹形槽,所述强磁材料试样设置在所述凹形槽中。

2.根据权利要求1所述观测装置,其特征在于,所述软磁材料为高饱和磁化强度及高导磁率软磁材料。

3.根据权利要求1或2所述观测装置,其特征在于,所述软磁材料为纯铁,铁镍合金,铁钴合金,非晶软磁中的一种或几种。

4.一种强磁材料动态微磁结构观测方法,采用磁力显微镜,其特征在于,制作强磁材料试样,将所述试样的表面进行磨抛处理,将所述试样进行饱和充磁或者经过部分退磁处理,然后将所述试样放置于强磁材料动态微磁结构观测装置凹形槽中,对所述试样的动态微磁结构进行观测。

5.根据权利要求4所述观测方法,其特征在于,所述强磁材料试样尺寸与凹形槽尺寸相匹配,且所述试样的上表面与凹形槽的上表面处于同一水平面上。

6.根据权利要求4所述观测方法,其特征在于所述强磁材料为钕铁硼,钐钴,铁氧体,铝镍钴,铁铬钴中的一种或几种。

7.根据权利要求4所述观测方法,其特征在于所述磨抛处理指用细砂纸进行打磨,再进行抛光处理至镜面。

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