[发明专利]一种探测固体材料表面及亚表面光学吸收的方法及装置无效
申请号: | 201310021062.6 | 申请日: | 2013-01-21 |
公开(公告)号: | CN103115900A | 公开(公告)日: | 2013-05-22 |
发明(设计)人: | 吴周令;陈坚;吴令奇;黄明 | 申请(专利权)人: | 合肥知常光电科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/63 | 分类号: | G01N21/63 |
代理公司: | 合肥天明专利事务所 34115 | 代理人: | 金凯 |
地址: | 230031 安徽省合肥市高新*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 探测 固体 材料 表面 光学 吸收 方法 装置 | ||
1.一种探测固体材料表面及亚表面光学吸收的方法,其特征在于:包括以下步骤:
(1)、用泵浦光束照射固体材料的前表面,此泵浦光束入射到固体材料内部并从后表面出射,固体材料的前表面及前亚表面区域、内部区域、后表面及后亚表面都会因为固体材料对泵浦光束能量的吸收而产生局部温度升高并进而产生红外辐射;
(2)、固体材料的前表面及前亚表面区域的红外辐射由相对固体材料的前表面设置的红外辐射收集装置收集、并经过红外滤波装置滤波后入射到红外探测装置上探测分析;
(3)、固体材料的后表面及后亚表面区域的红外辐射由相对固体材料的后表面设置的红外辐射收集装置收集、并经过红外滤波装置滤波后入射到红外探测装置上探测分析。
2.一种探测固体材料表面及亚表面光学吸收的装置,其特征在于:包括有相对固体材料前表面设置的泵浦光源,相对固体材料前表面设置的第一红外辐射收集装置,依次设置于第一红外辐射收集装置后端的第一红外滤波装置和第一红外探测装置,相对固体材料后表面设置的第二红外辐射收集装置,依次设置于第二红外辐射收集装置后端的第二红外滤波装置和第二红外探测装置。
3.根据权利要求2所述的一种探测固体材料表面及亚表面光学吸收的装置,其特征在于:所述的第一红外滤波装置、第二红外滤波装置、第一红外探测装置和第二红外探测装置的选择满足第一红外滤波装置和第二红外滤波装置的透过波段、第一红外探测装置和第二红外探测装置的探测波段与固体材料的红外辐射强吸收波段一致。
4.根据权利要求2所述的一种探测固体材料表面及亚表面光学吸收的装置,其特征在于:所述的探测固体材料对泵浦激光束是透明的。
5.根据权利要求2所述的一种探测固体材料表面及亚表面光学吸收的装置,其特征在于:所述的探测固体材料对泵浦激光束激发的红外辐射在选定波段是吸收较大的。
6.根据权利要求2所述的一种探测固体材料表面及亚表面光学吸收的装置,其特征在于:所述的探测固体材料表面及亚表面光学吸收的装置还包括有设置于泵浦光源发射端和固体材料前表面之间的泵浦光束调制装置和泵浦光束整形处理装置。
7.根据权利要求2所述的一种探测固体材料表面及亚表面光学吸收的装置,其特征在于:所述的探测固体材料表面及亚表面光学吸收的装置还包括相对固体材料后表面设置的泵浦光吸收装置。
8.根据权利要求2所述的一种探测固体材料表面及亚表面光学吸收的装置,其特征在于:所述的探测固体材料表面及亚表面光学吸收的装置还包括有用于固定固体材料的样品装夹扫描装置。
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