[发明专利]矩阵基板、检测装置和检测系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种矩阵基板(matrix substrate)、检测装置和检测系统，尤其涉及一种可以应用于医疗诊断摄像装置、非破坏性检查装置和使用放射线的分析装置的矩阵基板、检测装置和检测系统。

背景技术

近年来，薄膜半导体制造技术已用于具有像素阵列的矩阵基板以及使用该矩阵基板的检测装置或放射线检测装置，在该像素阵列中，诸如薄膜晶体管(TFT)等的开关元件与诸如光电转换元件等的转换元件相结合。近年来正在对检测装置中的、将信号分离器形成在与像素阵列相同的基板上的技术进行检验。美国专利5,536,932论述了以下内容。检测装置包括设置有多个TFT的信号分离器，其中，该多个TFT被设置为在外部栅极端子和多个栅极线(驱动线)之间与多个栅极线分别对应，该外部栅极端子被设置为与外部移位寄存器的端子一一对应。此外，信号分离器顺次选择像素阵列的驱动线，以将时钟信号(控制信号)经由时钟线(控制线)施加至所有的多个TFT。

同时，在美国专利5,536,932中，每次在信号分离器顺次选择像素阵列的驱动线时，时钟信号(控制信号)经由时钟线(控制线)施加至所有的多个TFT。因此，时钟线(控制线)中时钟信号(控制信号)的频率增加。尤其是，当驱动线的数量随像素阵列的大面积化和高精细化而增加时，或当减少栅极线的扫描时间以进行高速操作时，时钟信号(控制信号)的频率增加。结果，由时钟线(控制线)产生的耗电增加。

发明内容

本发明所说明的典型实施例描述了能够限制外部栅极端子的数量并减少耗电的检测装置、检测系统和检测装置的驱动方法的创新方面。

根据本发明的一个方面，提供了一种矩阵基板，其包括：多个像素，以行和列的矩阵形式进行设置；多条驱动线，在列方向上并列设置，并且共同连接至行方向上的多个像素；多个连接端子，被设置为数量少于所述多条驱动线的数量，并且用于将用于驱动所述多个像素的驱动电路与所述多条驱动线相连接；以及信号分离器，包括多个单元电路和多条控制线，并用于将所述多个连接端子连接至所述多条驱动线；其中，所述多个单元电路中的各个单元电路包括用于将所述多个连接端子中的预定连接端子连接至所述多条驱动线中的两条或更多条预定驱动线的多个晶体管；以及其中，所述多条控制线连接至所述多个晶体管的控制电极，以提供所述多个晶体管的导通电压和非导通电压；其中，所述多个单元电路包括预定单元电路以及与所述预定单元电路邻接的另一单元电路；以及所述预定单元电路中所包括的多个晶体管中的设置在最接近所述另一单元电路的位置处的晶体管的控制电极与所述另一单元电路中所包括的多个晶体管中的设置在最接近所述预定单元电路的位置处的晶体管的控制电极连接至所述多条控制线中的同一控制线。

根据本发明的另一方面，提供了一种检测装置，其包括矩阵基板；所述驱动电路；以及控制电路，用于向所述控制线提供所述晶体管的导通电压和非导通电压；其中，所述控制电路以驱动所述多个像素的频率的一半的频率，向所述控制线提供所述晶体管的导通电压和非导通电压。

根据本发明的另一方面，提供了一种检测系统，包括检测装置；信号处理单元，用于处理来自所述检测装置的信号；记录单元，用于记录来自所述信号处理单元的信号；显示单元，用于显示来自所述信号处理单元的信号；以及发送处理单元，用于发送来自所述信号处理单元的信号。

此外，根据本发明的另一方面，提供了一种检测装置，其包括：多个像素，以行和列的矩阵形式进行设置；多条驱动线，在列方向上并列设置，并且共同连接至行方向上的多个像素；驱动电路，用于驱动所述多个像素；多个连接端子，被设置为数量少于所述多条驱动线的数量，并且用于将所述驱动电路与所述多条驱动线相连接；信号分离器，包括多个单元电路和多条控制线，并用于将所述多个连接端子连接至所述多条驱动线，其中，所述多个单元电路中的各个单元电路包括用于将所述多个连接端子中的预定连接端子与所述多条驱动线中的两条或更多条预定驱动线相连接的多个晶体管，并且所述多条控制线连接至所述多个晶体管的控制电极以提供所述晶体管的导通电压和非导通电压；以及控制电路，用于向所述控制线提供所述晶体管的导通电压和非导通电压；其中，所述控制电路以驱动所述像素的频率的一半的频率，向所述控制线提供所述晶体管的导通电压和非导通电压。

根据本发明的典型实施例，可以减少控制信号(时钟信号)的频率，因而可以减少由时钟线产生的耗电。由此，本发明可以提供能够限制外部栅极端子的数量并减少耗电的检测装置、检测系统和检测装置的驱动方法。

通过以下参考附图对典型实施例的详细说明，本发明的其它特征和方面将变得明显。