[发明专利]一种面向精密装配的基于熵理论的平面形状误差评定方法有效
| 申请号: | 201310019433.7 | 申请日: | 2013-01-18 |
| 公开(公告)号: | CN103047959A | 公开(公告)日: | 2013-04-17 |
| 发明(设计)人: | 张之敬;金鑫;张婷玉;叶鑫;陈建峰 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
| 主分类号: | G01B21/30 | 分类号: | G01B21/30;G01B21/20 |
| 代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 杨志兵;高燕燕 |
| 地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 面向 精密 装配 基于 理论 平面 形状 误差 评定 方法 | ||
1.一种用于精密装配的平面形状误差评定方法,其特征在于,该方法包括:
步骤一、有曲表面总体高度分布均匀性初评价;
对待评定的有曲表面进行测量,测量点呈矩形阵列形式排列;将各测量点的高度值转化为评价坐标系内的z坐标值并进行归一化,得到归一化坐标值z',采用式(1~3)计算有曲表面总体高度分布均匀性的正规化熵值:其中,n为测量点总数;
高度分布均匀性熵估计值:
高度分布均匀性极大熵为:H∝=log2n (2)
高度分布均匀性的正规化熵值为:Hs=H/H∝ (3)
如果计算所得的熵值大于或等于根据装配精度要求设定的阈值,说明各测量点高度分布均匀;否则,执行步骤二;
步骤二、分析凸点高度分布均匀性;
在所有测量点中搜索凸点,将各凸点在评价坐标系下的高度值经归一化得到归一化坐标值z0',采用式(4~6)计算凸点高度分布均匀性的正规化熵值H0S:其中,m为有曲表面上的凸点总数;
凸点高度分布均匀性的熵估计值:
凸点高度分布均匀性的极大熵为:H0∝=log2m (5)
凸点高度分布均匀性的正规化熵值为:H0S=H0/H0∝ (6)
步骤三、分析凸点位置分布均匀性;
将有曲表面划分为多个区域,计算每个区域中包含的凸点占有曲表面总凸点数的比例P,采用式(7~9)计算凸点位置分布均匀性的正规化熵值HPS:其中,N为划分区域总数;
凸点位置分布均匀性的熵估计值:
凸点位置分布均匀性的极大熵为:HP∝=log2N (8)
凸点位置分布均匀性的正规化熵值为:HPS=HP/HP∝ (9)
步骤四、平面形状误差分布均匀性综合评价;
将凸点高度分布均匀性熵评价指标H0S、凸点位置分布均匀性熵评价指标HPS进行加权,得到平面形状误差分布均匀性综合评价指标;综合评价指标越高,表示有曲平面形状误差总体分布越均匀。
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