[发明专利]用于工业水槽液位串级预测控制系统的一致性约束方法有效

专利信息
申请号: 201310017758.1 申请日: 2013-01-17
公开(公告)号: CN103048923A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 谢磊;王燕青;苏宏业 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G05B13/00 分类号: G05B13/00
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 胡红娟
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 用于 工业 水槽 液位串级 预测 控制系统 一致性 约束 方法
【权利要求书】:

1.一种用于工业水槽液位串级预测控制系统的一致性约束方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)建立用于工业水槽液位串级预测控制系统的外回路PFC控制器的控制结构模型和内回路PID控制器的控制结构模型;

2)判断外回路PFC控制器和内回路PID控制器是否约束一致,如果一致则进行步骤3),如果不一致,则返回步骤1)重新建立外回路PFC控制器的控制结构模型和内回路PID控制器的控制结构模型;

3)在外回路PFC控制器和内回路PID控制器约束一致的情况下,采用约束回退算法,将内回路PID控制器约束预先加载于外回路PFC控制律的计算过程中,并获得外回路PFC控制器在进行优化计算时新的约束条件集;

4)外回路PFC控制器在新的约束条件集下进行优化计算,获得内回路PID控制器的设定值,并将该设定值提供给内回路PID控制器,使内回路跟踪该设定值。

2.根据权利要求1所述的一种用于工业水槽液位串级预测控制系统的一致性约束方法,其特征是:在步骤1)中,建立用于工业水槽液位串级预测控制系统的外回路PFC控制器的控制结构模型和内回路PID控制器的控制结构模型,

所述外回路PFC控制器的控制结构模型为

uext(k)=(SPext-yp(k))(1-λexth)-ym(k)amexth+ym(k)Kmext(1-amexth)---(1-1)]]>

式中,下标p表示过程;

uext(k)为k时刻外回路PFC预测函数控制器的输出;

SPext为外回路PFC预测函数控制器的设定值;

yp(k)和yp(k+h)分别表示k时刻与k+h时刻工业水槽液位串级预测控制系统的输出;

表示k时刻偏差εext(k)=SPext-yp(k)到k+1时刻偏差εext(k+1)=SPext-yp(k+1)的衰减系数;

Ts为采样周期;

CLTR为一阶离散系统闭环响应时间,即到达95%设定值的时间;

为外回路PFC预测函数控制模型衰减系数;

Tm为模型时间常数;

Kmext为模型增益;

令内回路采用比例P控制,设控制器增益为Kint,则所述内回路PID控制器的控制结构模型为

uint=(SPint-yp(k))Kint    (1-2)

式中,uint为内回路控制器的输出;

SPint为内回路的设定值;

yp(k)为k时刻工业水槽液位串级预测控制系统的输出;

Kint为内回路控制器增益。

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