[发明专利]一种实验室测定松散矿岩颗粒移动过程的方法

说明书

技术领域

本发明涉及崩落采矿测定松散矿岩颗粒移动过程的方法，特别是一种实验室测定松散矿岩颗粒移动过程的方法。

背景技术

崩落采矿法特点是在松散岩石颗粒的覆盖下，对由爆破崩落的矿石进行采出。矿石与岩石直接接触，导致该方法在回采的过程中产生贫化与损失。因此，对松散矿岩颗粒移动过程的测定，是从根本上理解岩石颗粒向矿石混入过程与发生机理的重要内容。为了降低损失、贫化率，充分回收地下矿产资源，就必须搞清楚松散矿岩内颗粒的移动过程。到目前为止，还没有发现测定松散矿岩内颗粒移动过程的相关报道。

发明内容

本发明提供了一种实验室测定松散矿岩颗粒移动过程的方法，实验测定的结果可用于指导崩落法采矿生产，减少损失与贫化率。

一种实验室测定松散矿岩移动过程的方法，根据两种吸收系数不同的矿岩颗粒对X射线的衰减程度不同，造成呈像时的黑度值不同，以黑度值的不同，对两种矿岩颗粒进行识别与呈像，并凭借一系列黑度差所在位置发生移动的图片来测定松散矿岩颗粒的移动过程。

本发明提供的一种实验室测定松散矿岩移动过程的方法包括以下内容：

a.测定设备及材料

采用便携式X射线发射机一台，管电压可调范围50Kv至300Kv，管电流可调范围0.5mA至5mA，焦点尺寸1.5mm×3.0mm，辐射角40°；有机玻璃材质放矿箱一个，放矿箱底部开一个出矿口，顶部开放，用来装卸矿岩颗粒；X射线呈像胶片；坐标纸；X射线防护铅房，整个实验室测定过程都在防护铅房内进行，人员在X射线透照时位于防护铅房外；

b.透照矿岩颗粒选取

选用白云石与磁铁矿石两种吸收系数不同的矿岩颗粒，以白云石做为岩石颗粒，磁铁矿石颗粒做为矿石颗粒，将白云石散体颗粒装满放矿箱，在白云石散体内放入一个磁铁矿石颗粒；

c.放矿呈像过程

在防护铅房内，放置便携式X射线发射机，并接通射线机控制台，放置放矿箱、装入松散矿岩颗粒，再将裁剪到适当尺寸的X射线呈像胶片装入增感屏并紧贴在放矿箱背侧面，放矿箱正侧面对准X射线发射窗口，将X射线发射窗口对准放矿箱中心位置，使X射线穿透放矿箱内松散矿岩后能垂直透照在X射线呈像胶片上，X射线发射窗口至放矿箱距离在20cm至40cm之间，布设测定设备完成后，关闭防护铅房，测试人员在铅房外操控X射线控制台，调整X射线机管电压为150Kv、管电流为5mA、曝光时间1.5分钟，按下控制开关等待曝光倒计时结束，该次曝光结束后，打开防护铅房，取出增感屏内X射线呈像胶片并记为胶片1，放入显影液中进行15分钟的显影，显影后取出、风干定影，到此，该次透照呈像结束，打开出矿口放出100-500cm³的矿岩颗粒，将记为胶片2的X射线呈像胶片放入增感屏，关闭防护铅房，测试人员在铅房外操控X射线控制台，调整X射线机管电压为150Kv、管电流为5mA、曝光时间1.5分钟，按下控制开关等待曝光倒计时结束，该次曝光结束后，打开防护铅房，取出增感屏内记为胶片2的X射线呈像胶片，放入显影液中进行15分钟的显影，显影后取出、风干定影，到此，该次透照呈像结束，打开出矿口放出100-500cm³的矿岩颗粒，将记为胶片3的X射线呈像胶片放入增感屏，关闭防护铅房，重复上述步骤，直至将白云石散体内磁铁矿颗粒放出停止，到此得到n张带有黑度差的X射线呈像胶片；

d.呈像后处理

跟随放矿过程，对放矿箱内松散矿岩透照得到一系列记为1、2、3、4、……、n的胶片，由于白云石散体与磁铁矿石颗粒具有不同的吸收系数，呈像时就会出现黑度差，每张胶片尺寸一样，所以黑度差所在位置的移动就代表了白云石散体内磁铁矿石颗粒的移动过程，将胶片1中白色区域中心所在位置描绘在坐标纸A上记为P1，将胶片2中白色区域中心所在位置描绘在同一张坐标纸A上记为P2，同样的方法将胶片n中白色区域中心所在位置描绘在同一张坐标纸A上记为Pn，描绘完后将坐标纸A上所有点P1、P2、……、Pn用折线连接，该折线就代表了磁铁矿石颗粒在白云石散体内的移动过程，从而完成测定松散矿岩内颗粒的移动过程。

所述的有机玻璃材质放矿箱外观尺寸长15cm，宽15cm，高30cm，前后左右4个面与底面有机玻璃板厚均为5mm，放矿箱底部出矿口尺寸3cm×3cm；X射线胶片裁剪尺寸为长15cm，高30cm；坐标纸裁剪到与X射线呈像胶片同样尺寸，长15cm，高30cm。