[发明专利]具有背光的装置的亮度测量方法及系统

权利要求书

1.一种具有背光的装置的亮度测量方法，由一控制装置测量由一待测装置的背光模块提供背光的图例，其特征在于该方法包括步骤：

开启该待测装置外部的一均匀光源以照射该待测装置；

指示提取被该均匀光源照射的该待测装置的影像为一基准影像并接收该基准影像；

辨识该基准影像中一待测图例的一完整图样；

关闭该均匀光源并开启该待测装置的该背光，以使该背光照射该待测装置；

指示提取该背光光源照射的该待测装置的影像为一对照影像并接收该对照影像，该对照影像的影像范围与该基准影像重叠；及

对该对照影像当中与该完整图样位置重叠的多个像素的亮度值进行计算，以获得该图例的一背光亮度。

2.如权利要求1所述的亮度测量方法，其特征在于提取该对照影像后包括步骤：

根据该完整图样的像素在该基准影像中的位置，辨识该对照影像中与该完整图样位置重叠的各个像素的亮度值。

3.如权利要求1所述的亮度测量方法，其特征在于提供该均匀光源照射该待测装置之前，该待测装置被固定于一测量位置，其中，提取该基准影像及该对照影像时，该待测装置皆位于该测量位置。

4.如权利要求1所述的亮度测量方法，其特征在于对该对照影像当中与该完整图样位置重叠的多个像素的亮度值进行计算的步骤，是计算所述多个像素的亮度值的平均值。

5.如权利要求1所述的亮度测量方法，其特征在于辨识该完整图样的步骤中包括步骤：

根据一亮度门槛值比对该基准影像中的每一像素的亮度值；及

记录该基准影像当中亮度值大于或等于该亮度门槛值的一或多个像素的位置；

其中，该基准影像当中亮度值大于或等于该亮度门槛值的一或多个像素位置的集合形成该完整图样。

6.如权利要求1所述的亮度测量方法，其特征在于指示提取该基准影像之前，包括步骤：

根据一选取范围圈选该待测装置的一部分，该选取范围中包括该待测图例；

其中，该基准影像及该对照影像皆为该选取范围内的影像。

7.如权利要求1所述的亮度测量方法，其特征在于指示提取该基准影像之前，包括步骤：

根据一选取范围圈选该待测装置的一部分，该选取范围中包括该待测图例；

其中，辨识该完整图样及计算该背光亮度的步骤皆为针对该选取范围内的像素。

8.一种具有背光的装置的亮度测量系统，用以测量由一待测装置的背光模块提供背光的图例，其特征在于，该亮度测量系统包括：

一影像提取装置，用以提取该待测装置的影像；

一发光装置，用以提供一均匀光源以照射该待测装置；及

一控制装置，耦接该影像提取装置、该发光装置及被测量的该待测装置，控制该发光装置以及该待测装置的一背光模块的开启与关闭，并控制该影像提取装置在该发光装置开启时，提取该待测装置的影像为一基准影像，以及该发光装置关闭且该背光模块开启时，提取该待测装置的影像为一对照影像，

其中，该对照影像的影像范围与该基准影像重叠，该控制装置辨识该基准影像中一待测图例的一完整图样，并对该对照影像当中与该完整图样位置重叠的多个像素的亮度值进行计算，以获得该待测图例的一背光亮度。

9.如权利要求8所述的亮度测量系统，其特征在于，该亮度测量系统还包括：

一暗箱装置；及

一定位结构，设置于该暗箱装置当中以正对该影像提取装置，用以定位该待测装置于一测量位置，

其中，该影像提取装置及该发光装置设置于该暗箱装置当中。

10.如权利要求9所述的亮度测量系统，其特征在于该发光装置包括照明设备，该照明设备设置于该定位结构侧边或上方。

11.如权利要求10所述的亮度测量系统，其特征在于该照明设备为探照灯、照明灯管，或发光二极管。

12.如权利要求8所述的亮度测量系统，其特征在于该待测装置为具有背光的键盘或液晶面板。