[发明专利]通过直接转换半导体层来转换X射线辐射的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201310015453.7 申请日: 2013-01-16
公开(公告)号: CN103207404A 公开(公告)日: 2013-07-17
发明(设计)人: C.施罗特 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24;H01L31/115
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 通过 直接 转换 半导体 射线 辐射 方法 设备
【权利要求书】:

1.一种用于通过直接转换半导体层(4)来转换X射线辐射的方法,该半导体层具有上表面(6)和在该半导体层(4)的厚度上延伸的侧面边界面(7),其中:

-所述X射线辐射(5)穿过上表面(6)入射到所述半导体层(4)内;

-同时,红外线辐射(3)穿过至少一个侧面边界面(7)平行于上表面(6)地透射该半导体层(4);

-其中,如下地设定所述红外线辐射(3)的强度轮廓(10,11):使该红外线辐射(3)的强度从上表面(6)开始关于所述半导体层(4)的厚度降低。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,如下地设定所述强度轮廓(10,11):使所述红外线辐射(3)的强度从上表面(6)开始关于所述半导体层(4)的厚度线性地降低。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,如下地设定所述强度轮廓(10,11):使所述红外线辐射(3)的强度从上表面(6)开始关于所述半导体层(4)的厚度指数地降低。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,如下地设定所述强度轮廓(10,11):使所述红外线辐射(3)的强度衰减从上表面(6)开始关于所述半导体层(4)的厚度,遵循与所入射的X射线辐射(5)关于所述半导体层(4)的厚度的X射线辐射强度衰减相对应的历程。

5.根据权利要求1至4所述的方法,其特征在于,通过红外光源(9)的二维阵列生成所述红外线辐射(3),并且通过对所述红外光源(9)的控制实现对该红外线辐射(3)的强度轮廓(10,11)的设定。

6.根据权利要求1至4所述的方法,其特征在于,通过一个或多个使红外线辐射减弱的元件(8)来实现对所述红外线辐射(3)的强度轮廓(10,11)的设定,该元件在红外线辐射(3)的光束路径中,被引入在位于一个或多个用于生成所述红外线辐射(3)的红外光源(9)和所述半导体层(4)的侧面边界面(7)之间。

7.根据权利要求1至4所述的方法,其特征在于,通过部分地吸收红外线辐射的层(8)来实现对所述红外线辐射(3)的强度轮廓(10,11)的设定,该层具有一个关于所述半导体层(4)的厚度而改变的厚度,被设置在半导体层(4)的侧面边界面(7)上。

8.一种用于通过直接转换半导体层(4)来转换X射线辐射的设备,该半导体层具有上表面(6)、在该半导体层(4)的厚度上延伸的侧面边界面(7)以及如下地配置和组成的红外照明装置(8,9):使该红外照明装置能够利用红外线辐射(3)平行于上表面(6)地穿过至少一个侧面边界面(7)透射所述半导体层(4),该红外线辐射具有如下的强度轮廓:该红外线辐射(3)的强度在透射所述半导体层(4)的情况下,从上表面(6)开始,关于该半导体层(4)的厚度降低。

9.根据权利要求8所述的设备,其特征在于,所述红外照明装置(8,9)具有红外光源(9)的二维阵列。

10.根据权利要求8或9所述的设备,其特征在于,所述红外照明装置(8,9)具有一个或多个在红外线辐射(3)的光束路线中使红外线辐射减弱的元件(8),通过所述元件形成了所述强度轮廓。

11.根据权利要求8或9所述的设备,其特征在于,在所述半导体层(4)的侧面边界面(7)上设置了部分吸收红外线辐射的层(8),其中,所述部分吸收红外线辐射的层(8)的厚度从半导体层(4)的上表面(6)开始关于半导体层(4)的厚度增加。

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