[发明专利]一种光学镜片阿贝值的无损测定方法在审

专利信息
申请号: 201310013945.2 申请日: 2013-01-15
公开(公告)号: CN103926056A 公开(公告)日: 2014-07-16
发明(设计)人: 蔡留美;姜冠祥;姜栋华;陆艳华;房元庆 申请(专利权)人: 上海雄博精密仪器股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01N21/41
代理公司: 上海天协和诚知识产权代理事务所 31216 代理人: 张恒康
地址: 200444 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学镜片 阿贝值 无损 测定 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种光学镜片的测定方法,具体地说,是一种光学镜片阿贝值的无损测定方法。

背景技术

随着新材料的不断发展眼镜片的阿贝值种类越来越多,特别是复合有机材料镜片阿贝值的价格差距很大,同样度数的同折射率的阿贝值为60的镜片要比阿贝值30的镜片的价格高十多倍,而目测是没办法区分其差别的。目前市场上还没有稳定可靠的仪器可对光学镜片的阿贝值进行无损精确测量。

发明内容

本发明的目的,在于提出一种光学镜片阿贝值的无损测定方法。

本发明的另一目的,在于提出一种以与本发明相配套的一种光学镜片折射率的无损测定方法为基础的光学镜片阿贝值的无损测定方法。

本发明的又一目的,在于提出一种不接触镜片、不损坏镜片、只需放到检测仪器中照一下就能得到光学透镜镜片阿贝值的光学镜片阿贝值的无损测定方法。

为实现上述目的,本发明的技术解决方案是:

一种光学镜片阿贝值的无损测定方法,以一种光学镜片折射率的无损测定方法为基础,其特征在于包括以下步骤:

a、提供一能够检测光学镜片光焦度的仪器,所述仪器是焦度计,或者焦距仪,且分别在用F光,D光和C光三种波长的光照射光学镜片环境下测量出所述三种光分别对应的折射率;

b、利用阿贝数计算公式计算出镜片的阿贝值

                          (1)

式中: Vd为被测镜片的阿贝值,nD为被测镜片在D光频段的折射率,nF为被测镜片在F光频段的折射率,nC为被测镜片在C光频段的折射率。

本发明的光学镜片阿贝值的无损测定方法还可以采用以下的技术措施来进一步实现。

前述的方法,其中所述F光是青光,波长486.13nm,氢光谱中的F线(Blue hydrogen F line);所述D光是黄光,波长589.3nm,钠光谱中的D线(Yellow sodium D line);所述C光是红光,波长656.3nm,氢光谱中的C线(Red hydrogen C line)。

前述的方法,其中所述步骤a中,焦度计是由雄博精密仪器股份有限公司制造的LM-380型号的焦度计。

采用上述技术方案后,本发明的光学镜片阿贝值的无损测定方法具有以下优点:

1、方法简便、操作简单、无损测定;

2、精确测量出光学镜片的阿贝值。

具体实施方式

以下通过具体实施例进一步说明本发明。

实施例1

本发明的光学镜片阿贝值的无损测定方法,其特征在于包括以下步骤:

a、提供焦度计是由雄博精密仪器股份有限公司制造的LM-380型号的焦度计;

(1)使用所述焦度计测量出一光学镜片置于所述F光下的折射率nF

(2)使用所述焦度计测量出一光学镜片置于所述D光下的折射率nD

(3)使用所述焦度计测量出一光学镜片置于所述C光下的折射率nC

b、利用阿贝数计算公式计算出被测镜片的阿贝值

                          (1)

式中: Vd为被测镜片的阿贝值,nD为被测镜片在D光频段的折射率,nF为被测镜片在F光频段的折射率,nC为被测镜片在C光频段的折射率。

本发明具有实质性特点和显著的技术进步,提供了一种用于光学镜片阿贝值的精确的无损测定方法。

以上实施例仅供说明本发明之用,而非对本发明的限制,有关技术领域的技术人员,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,还可以作出各种变换或变化。因此,所有等同的技术方案也应该属于本发明的范畴,应由各权利要求限定。

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