[发明专利]一种测量部分相干高斯光束波前相位半径的方法有效
| 申请号： | 201310010442.X | 申请日： | 2013-01-11 |
| 公开（公告）号： | CN103063162A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 朱时军;刘琳;陈亚红;蔡阳健 | 申请（专利权）人： | 苏州大学 |
| 主分类号： | G01B11/255 | 分类号： | G01B11/255;G01J11/00 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 陶海锋 |
| 地址： | 215123 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测量 部分 相干 光束 相位 半径 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种测量部分相干高斯光束波前相位半径的方法，待测的部分相干高斯光束具有高斯关联特性，其特征在于测量方法包括如下步骤：将待测光束经薄透镜聚焦后产生球面波前相位，采用关联器系统测量得到光束的初始横向相干宽度 ，采用光束分析仪分别测量得到光束的初始横向束腰宽度和出射面上的横向束腰宽度，按式
得到光束的波前曲率半径R；
其中， k为波数，A、B、C和D为象散光学系统传输矩阵； R0为初始波前曲率半径，按式
得到， 其中，。
2.根据权利要求1所述的一种测量部分相干高斯光束波前相位半径的方法，其特征在于：采用关联器系统测量光束的横向相干宽度，在光束待测面后依次放置成像透镜、分束镜和关联器系统，采用2f成像方法进行关联探测，将两路的关联值进行高斯拟合，得到光束的横向相干宽度，f为成像透镜的焦距。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州大学，未经苏州大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310010442.X/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：开松机的防灰装置
- 下一篇：一种制备半导体弛豫、应变材料并使其层转移的方法
