[发明专利]陶瓷电子部件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201310005688.8 申请日: 2011-04-29
公开(公告)号: CN103077823A 公开(公告)日: 2013-05-01
发明(设计)人: 西坂康弘;真田幸雄;佐藤浩司;松本诚一 申请(专利权)人: 株式会社村田制作所
主分类号: H01G4/008 分类号: H01G4/008;H01G4/232
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李逸雪
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 陶瓷 电子 部件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种陶瓷电子部件,包括:陶瓷基体、和在上述陶瓷基体之上形成的外部电极,该陶瓷电子部件的特征在于,

上述外部电极具有:在上述陶瓷基体之上形成的基底电极层、和在上述基底电极层之上形成的第一Cu镀膜,

上述基底电极层包含:能扩散进Cu中的金属、和陶瓷结合材料,

在上述第一Cu镀膜的至少上述基底电极层侧的表层中扩散有上述能扩散进Cu中的金属,

在上述第一Cu镀膜的表面上并未形成氧化膜。

2.根据权利要求1所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

在上述第一Cu镀膜中存在有晶界,上述能扩散进Cu中的金属沿上述第一Cu镀膜的晶界扩散。

3.根据权利要求1或2所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

上述能扩散进Cu中的金属一直扩散到上述第一Cu镀膜的与上述基底电极层相反侧的表面。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

上述能扩散进Cu中的金属是从由Ni、Ag、Pd、及Au组成的组中选出的一种以上的金属。

5.根据权利要求1~4中任一项所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

上述外部电极还具有在上述第一Cu镀膜之上形成的第二Cu镀膜,在上述第二Cu镀膜中未扩散有上述能扩散进Cu中的金属。

6.根据权利要求1~5中任一项所述的陶瓷电子部件,其特征在于,

Cu从上述第一Cu镀膜扩散进上述基底电极层中。

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