[发明专利]多阶段间歇生产过程的全程优化方法无效
申请号: | 201310005101.3 | 申请日: | 2013-01-07 |
公开(公告)号: | CN103092078A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 乔延江;徐冰;史新元;周海燕 | 申请(专利权)人: | 北京中医药大学;亚宝北中大(北京)制药有限公司 |
主分类号: | G05B13/04 | 分类号: | G05B13/04 |
代理公司: | 北京金信立方知识产权代理有限公司 11225 | 代理人: | 黄威;邓玉婷 |
地址: | 100029 北京市朝阳*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阶段 间歇 生产过程 全程 优化 方法 | ||
技术领域
本发明属于生产过程控制与优化领域,特别涉及一种多阶段间歇生产过程的全程优化方法。
背景技术
间歇过程在现代制造业占有重要地位,广泛应用于药品、化工产品、生物制品、农产品等高附加值产品的加工制造领域。在实际生产中,由多个过程单元或工序按照一定顺序组成的间歇过程,称为多阶段间歇过程。多阶段间歇过程的主要目的在于提高产品的性能,保证产品质量的稳定性,以增强产品的市场竞争力。与间歇过程单元不同,多阶段间歇生产过程的控制与优化因其复杂的本质而更具有挑战性。
一般来说,多阶段间歇过程主要具有以下特点:(1)间歇过程单元是多阶段间歇过程的基本单位,无稳定工作点,运行时间有限。(2)不同过程单元之间具有复杂的相互作用关系,一个单元的输出是与其相连的单元的输入,下游单元的操作受到上游单元的影响;不同的过程参数和过程单元之间可能存在临时的、不可预知的作用关系。(3)最终产品的质量是原料经多个阶段加工的累积作用结果;过程参数和过程单元对产品质量的影响程度,会随着多阶段生产过程的进行而发生变化。(4)来自原料质量的波动或某一过程单元的扰动,会随生产过程的进行传递到最终产品的质量,造成最终产品批次间的差异。
以产品质量为导向的多阶段间歇过程优化控制的难点,在于如何构建过程参数与产品质量之间的关系模型,以体现产品质量在多阶段生产过程中的传递规律;以及如何利用模型建立有效的优化控制策略,以应对原料波动和过程单元扰动,提高并稳定产品质量。经文献检索发现,俄罗斯化学物理研究所的Alexey Pomerantsev在《Chemometrics and Intelligent Laboratory Systems》(81,165-179,2006)上撰文“Process control and optimization with simple interval calculation method(SIC方法在过程优化与控制中的应用)”,提出利用递进PLS(偏最小二乘回归)建模进行质量预测,利用PLS通路建模和SIC方法进行多阶段生产过程的参数优化。但PLS通路建模和SIC方法结合操作步骤繁琐,并且SIC自身理论不完备,使得优化存在一定经验性;且由于其优化目标是最大化某一质量指标,忽略了产品质量的连续性。
发明内容
本发明的目的是提供一种多阶段间歇生产过程的全程优化方法,以优化生产过程中每个阶段的工艺参数,为产品质量符合既定目标提供持续最优的保证。
为了实现上述目的,本发明提供了一种多阶段间歇生产过程的全程优化方法,包括以下步骤:
S1:采集一个多阶段生产过程的多批生产数据并进行预处理,所述生产数据包括过程参数和产品质量属性数据;
S2:采用递进PLS方法建立过程参数与产品质量属性数据之间的PLS模型;
S3:确定优化目标,结合所述PLS模型计算产品质量属性符合优化目标的贝叶斯后验预测概率,选择贝叶斯后验预测概率最大的过程参数组合作为优化结果。
作为优选,步骤S1具体包括:
S101:采集数据:
采集一个多阶段生产过程的m批生产数据,每批生产数据分别包括n个过程参数和q个产品质量属性数据,则过程参数组成大小为m×n的矩阵X,产品质量属性数据组成大小为m×q的矩阵Y;
S102:数据预处理及样本划分:
对所有生产数据进行归一化预处理以消除量纲差异,并采用样本划分方法将全部样本划分为校正集和验证集,其中校正集数据用于建立PLS模型,验证集数据用于验证PLS模型;
S103:重组数据:
若所述多阶段生产过程由k个阶段组成,则将每个阶段的过程参数分别以矩阵Xj表示,其中1≤j≤k,则过程参数矩阵X分解为k个矩阵X1~Xk;在第j个阶段,将矩阵X1~Xj重组形成联合矩阵X(j):
X(j)=(X1,X2,...,Xj) (1)
形成的k个联合矩阵用于多阶段过程模型的建立。
作为进一步地优选,步骤S2具体包括:
S201:选择最优潜变量因子数:
结合化学计量学指标,采用交叉验证的方法选择最优潜变量因子数p,其中所述化学计量学指标包括校正误差均方根、交叉验证误差均方根、预测误差均方根和/或预测残差平方和;
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