[发明专利]用于光子计数探测器的自适应持续电流补偿有效
| 申请号: | 201280077580.3 | 申请日: | 2012-12-12 |
| 公开(公告)号: | CN104838287B | 公开(公告)日: | 2018-08-17 |
| 发明(设计)人: | R·普罗克绍 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘瑜;王英 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 持续电流 补偿信号 直接转换材料 前置放大器 探测器像素 放大 直接转换 辐射 光子计数探测器 成像系统 检查区域 水平移位 信号生成 估计器 整形器 自适应 脉冲 像素 抵消 照射 探测 穿越 | ||
1.一种成像系统(100),包括:
第一直接转换探测器像素(111),其探测穿越检查区域(106)的辐射,并且生成指示所述辐射的电信号,其中,所生成的电信号包括持续电流,所述持续电流是由所述第一直接转换探测器像素的直接转换材料产生的,并且所述持续电流将所述电信号的水平移位;
持续电流估计器(116),其估计由所述直接转换材料产生的所述持续电流,并且基于所述估计来生成持续电流补偿信号;
前置放大器(112),其接收所述持续电流补偿信号和由所述第一直接转换探测器像素输出的所述电信号,其中,所述持续电流补偿信号基本上抵消由所述直接转换材料产生的所述持续电流,从而产生经持续电流补偿的信号,并且所述前置放大器对所述经持续电流补偿的信号进行放大,从而生成被放大的经持续电流补偿的信号;以及
整形器(114),其基于所述被放大的经持续电流补偿的信号生成指示照射所述直接转换材料的所述辐射的能量水平的电脉冲;
其中,所述持续电流估计器包括电路(300),所述电路接收并处理由所述整形器输出的所述电脉冲,并且基于所述电脉冲生成所述持续电流补偿信号;
其中,所述电路包括第一电阻元件(310)和积分器(302);
其中,所述第一电阻元件接收由所述整形器输出的所述电脉冲,并且生成指示所述直接转换材料中的俘获空穴的所述生成的第一输出信号;
其中,所述积分器包括放大器(304)和反馈电路(303);
其中,所述反馈电路包括:第二电阻元件(306),所述第二电阻元件指示所述直接转换材料的所述俘获空穴复合率;以及电容元件(308),其中,所述第二电阻元件和所述电容元件电并联;并且
其中,所述积分器接收所述第一输出信号并且对所述第一输出信号进行积分,并且基于所述第一输出信号生成所述持续电流补偿信号。
2.根据权利要求1所述的成像系统,其中,所述持续电流估计器基于所述直接转换材料关于所述持续电流的表现的模型来估计所述持续电流补偿信号。
3.根据权利要求2所述的成像系统,其中,所述模型对所述直接转换材料中的俘获空穴的生成以及对所述直接转换材料的俘获空穴复合率进行建模。
4.根据权利要求1所述的成像系统,其中,所述第一电阻元件具有对应于所述直接转换材料关于所述持续电流的所述表现的第一电阻值。
5.根据权利要求4所述的成像系统,还包括:
至少第二直接转换探测器像素,其中,所述第二直接转换探测器像素的第一电阻元件具有对应于所述至少第二直接转换探测器像素的直接转换材料关于所述持续电流的表现的第二电阻值,并且所述第二电阻值不同于所述第一电阻值。
6.根据权利要求1所述的成像系统,其中,所述第二电阻元件具有对应于所述直接转换材料关于所述持续电流的所述表现的第二电阻值。
7.根据权利要求6所述的成像系统,还包括:
至少第二直接转换探测器像素,其中,所述第二直接转换探测器像素的第二电阻元件具有对应于所述至少第二直接转换探测器像素的直接转换材料关于所述持续电流的表现的第二电阻值,并且所述第二电阻值不同于所述第一电阻值。
8.根据权利要求1到7中的任一项所述的成像系统,其中,对由所述整形器生成的所述电脉冲进行处理,以对对应的探测到的辐射进行能量区分。
9.根据权利要求1到7中的任一项所述的成像系统,还包括:
多个所述直接转换探测器像素和多个所述持续电流估计器,其中,每个持续电流估计器生成针对不同的直接转换探测器像素的持续电流补偿信号。
10.根据权利要求1到7中的任一项所述的成像系统,其中,所述持续电流是由所述第一直接转换探测器像素的所述直接转换材料响应于所述辐射照射所述直接转换材料而产生的。
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