[发明专利]检测处理器插槽中的缺陷在审

专利信息
申请号: 201280072807.5 申请日: 2012-07-30
公开(公告)号: CN104272264A 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: 普里特尔·贾亚纳特尔·帕特尔 申请(专利权)人: 惠普发展公司;有限责任合伙企业
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/263
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 于会玲;康泉
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 检测 处理器 插槽 中的 缺陷
【权利要求书】:

1.一种系统,包括:

包括多个管脚的插槽;

安装在该插槽中的处理器,该处理器包括JTAG接口;和

包括JTAG接口的控制器,该控制器被配置成通过该JTAG接口测试该插槽以检测该插槽中的任何缺陷。

2.根据权利要求1所述的系统,其中该控制器被配置成通过经由边界扫描单元跨越所述多个管脚来发送位模式、在该位模式跨过所述多个管脚后接收该位模式并且把该接收的位模式与该发送的位模式进行比较,来测试该插槽。

3.根据权利要求1所述的系统,其中该控制器被配置成:如果该接收的位模式与该发送的位模式之间有差异,那么指示所述多个管脚中的一个管脚是弯曲的。

4.根据权利要求1所述的系统,进一步包括:

用于连接该控制器的JTAG接口与该处理器的JTAG接口的复用器。

5.根据权利要求4所述的系统,进一步包括:

通过该复用器被连接到该处理器的JTAG接口上的仿真器接口,

其中该控制器被配置成控制该复用器的选择位。

6.根据权利要求1所述的系统,进一步包括:

用于把该控制器所输出的电压转换为该处理器所要求的电压的电压电平转换器。

7.一种测试处理器插槽的方法,包括:

跨越该处理器插槽的多个管脚发送位模式;

在该位模式跨过所述多个管脚后接收该位模式;以及

通过把该接收的位模式与该发送的位模式进行比较,确定所述多个管脚中的任一管脚是否是弯曲的或缺失。

8.根据权利要求7所述的方法,进一步包括:如果该接收的位模式与该发送的位模式不同,那么提供所述多个管脚中的一个管脚是弯曲的或缺失的指示。

9.根据权利要求7所述的方法,其中通过JTAG接口跨越该处理器插槽的所述多个管脚发送该位模式。

10.根据权利要求9所述的方法,进一步包括控制把测试设备和调试设备复用到该JTAG接口上的复用器,

其中如果该调试设备置位存在位,那么该调试设备被连接到该JTAG接口上。

11.根据权利要求7所述的方法,其中该方法由带外管理系统执行。

12.根据权利要求7所述的方法,其中在把包括该处理器插槽的系统运输给顾客前,执行该方法。

13.一种非暂时性计算机可读存储媒体,包括当被第一处理器执行时,使得该第一处理器进行下列操作的指令:

通过与安装在插槽中的第二处理器的JTAG接口相关的边界扫描单元,把位模式移出到该插槽中的多个管脚;

在该位模式跨过所述多个管脚后,把该位模式移回到该第一处理器;以及

把该移出的位模式与该移回的位模式进行比较,以确定该处理器插槽内是否有任何缺陷。

14.根据权利要求13所述的计算机可读存储媒体,其中该第一处理器是带外管理系统的控制器。

15.根据权利要求13所述的计算机可读存储媒体,进一步包括使得该第一处理器把该第二处理器保持在复位模式中的指令。

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