[发明专利]质量分析装置有效

专利信息
申请号: 201280072343.8 申请日: 2012-04-12
公开(公告)号: CN104246488A 公开(公告)日: 2014-12-24
发明(设计)人: 朝野夏世 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;G01N30/72;G01N30/86
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 质量 分析 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种利用脉冲计数型检测器来作为离子检测器的质量分析装置,更为详细地说,例如涉及一种如液相色谱质量分析装置(LC/MS)那样能够通过反复执行的质量分析来制作色谱的质量分析装置。

背景技术

作为评价分析装置的性能的一个重要因素,存在数据的再现性。作为定量地表示再现性的指标,经常利用将标准偏差STDEV除以平均值Average再乘以100而得到的CV(Coefficient of Variation)值(有时也被称为变动系数、相对标准偏差等)。例如在使用了液相色谱质量分析装置(LC/MS)的定量分析的情况下,基于测量已知浓度的试样而得到的结果来预先制作校准曲线,但在决定校准点时CV值也非常重要。例如在美国食品药品监督管理局(FDA)的基准中,作为定量下限(LOQ=Limit of Quantitation)的校准点处的CV值被定为20%以下,除此以外的校准点处的CV值被定为15%以下。

一般情况下,根据多个色谱峰的面积值来计算LC/MS等色谱装置的CV值(参照专利文献1等)。然而,通常在基于某个通过测量而得到的色谱来计算出的CV值中除了包含统计值的误差因素以外,还包含依赖于测量条件等的不稳定因素。去除这种由测量条件等导致的不稳定因素、如何能够求出稳定的再现性良好的数据,不仅在定量分析的精度上,而且在评价装置上也是重要的。

通过能够普遍获取的解析软件就能够容易地进行根据色谱峰的面积值计算CV值。然而,即使利用这样的方法求出CV值,也不能分离或者识别出由测量条件等导致的不稳定因素,因此分析者难以判断是否能够基于所得到的该实测CV值的结果来充分地发挥该装置的性能或者测量条件是否恰当等。

专利文献1:日本特开平7-83901号公报

发明内容

发明要解决的问题

本发明是为了解决上述问题而完成的,其主要目的在于提供如下一种质量分析装置:能够将仅包含数据的统计上的误差因素的CV值呈现为基准值,由此能够通过与实测CV值相比较来进行实测数据的评价等。另外,本发明的另一目的在于提供如下一种质量分析装置:能够根据作为目标的CV值来反向地导出适于实现该CV值的测量条件。

用于解决问题的方案

作为用于质量分析装置的离子检测器,大致利用测量离子电流的平均值、积分值的直流型检测器和将已到达的离子的个数作为脉冲信号来进行计数的脉冲计数型检测器。一般情况下大多利用前者的直流型检测器,但在信号强度低且化学噪声比较小的情况下,经常利用有利于测量微小离子量的后者的脉冲计数型检测器。例如,在对利用液相色谱仪进行成分分离而得到的试样液中的成分进行MS/MS分析(也叫作串联分析)的LC/MS/MS中,利用脉冲计数型检测器的情况比较多。

在使用了脉冲计数型检测器的质量分析装置中,信号强度用离子数来表示,因此与某种成分对应的色谱峰中包含的离子数能够根据该色谱峰面积值、滞留时间(Dwell Time)以及循环时间(有时也称为周期时间)来计算,该滞留时间是用于检测源自该成分的离子的离子取入时间,该循环时间是对源自一个至多个测量对象成分的离子分别进行一次测量所需的测量周期。另一方面,本申请发明人发现了以下情况:与某种成分对应的色谱峰中包含的离子数与CV值的关系能够利用规定的公式来近似,而且该关系不依赖于装置、试样成分等的测量条件。因此,本申请发明人为了计算作为基准的CV值,想到要利用使用了脉冲计数型检测器的质量分析装置所特有的如上所述的关系。

即,为了解决上述问题而完成的本发明的质量分析装置以使一个或者多个试样成分的浓度的时间变化呈现峰的方式将试样导入到离子源,将该试样中的成分离子化并与质量电荷比相应地进行分离,利用脉冲计数型检测器进行检测,该质量分析装置的特征在于,具备:

a)存储单元,其事先存储基于预备的实验的结果而得到的表示一个色谱峰中包含的离子数与CV值的关系式的信息,其中,该CV值是测量再现性的指标;以及

b)运算处理单元,其在被提供循环时间和滞留时间作为测量条件、并且被提供目标成分的色谱峰面积值作为实际的或者虚拟的测量结果时,根据所述循环时间、滞留时间以及色谱峰面积值来计算离子数,将求出的离子数代入基于上述存储单元中存储的信息的关系式来计算基准CV值,其中,该循环时间是反复进行每次检测源自所指定的一个或者多个成分的离子的测量时的一个测量周期,该滞留时间是用于在该循环时间内检测源自目标成分的离子的时间。

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