[发明专利]复合半导体开关装置有效
申请号: | 201280072181.8 | 申请日: | 2012-04-06 |
公开(公告)号: | CN104247266B | 公开(公告)日: | 2017-05-17 |
发明(设计)人: | 石川纯一郎 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H03K17/687 | 分类号: | H03K17/687;H02M1/08;H02M3/155;H03K17/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 李辉,龚晓娟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 复合 半导体 开关 装置 | ||
1.一种复合半导体开关装置,其特征在于,该复合半导体开关装置具有:
第1半导体元件,其随着导通/截止的开关动作产生开关损耗;
第2半导体元件,其与该第1半导体元件并联连接,并且随着导通/截止的开关动作产生比所述第1半导体元件高的所述开关损耗;以及
控制单元,其在向所述第1半导体元件提供第1导通指令信号后向所述第2半导体元件提供第2导通指令信号,然后使所述第1导通指令信号消失,在向所述第1半导体元件提供第3导通指令信号后使所述第2导通指令信号消失。
2.根据权利要求1所述的复合半导体开关装置,其特征在于,所述控制单元产生第1导通指令信号及第2导通指令信号,使得所述第2导通指令信号在上升时与所述第1导通指令信号的重合时长达所述第2半导体元件的接通时间以上且在该接通时间的二倍以下。
3.根据权利要求1或2所述的复合半导体开关装置,其特征在于,所述控制单元产生第2导通指令信号及第3导通指令信号,使得所述第3导通指令信号在上升时与所述第2导通指令信号的重合时长达所述第2半导体元件的关断时间以上且在该关断时间的二倍以下。
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