[发明专利]用于测量差分信号的扫描头的适配器

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于测量差分信号的传感器的适配器。

背景技术

通过利用示波器测量差分信号是研发实验室和测试站中常见的工作。为了测量差分信号的两个局部信号，使用具有两个测试触点探头的传感器，所述每个测试触点探头测量一个局部信号，并将该局部信号发送给示波器，用于进一步的信号处理和在屏幕上显示。

由于两个测试触点位置(在该触点位置处，通过传感器测量差分信号的两个局部信号)在印刷电路板上提供一定的间距，该间距可区分印刷电路板上不同的差分信号的各个测量，故需要传感器，通过该传感器，在两个测试触点探头之间的间距可以与在两个测试触点位置之间的不同的间距匹配。

从US7102370B1中已知这种传感器，该传感器的测试触点探头可以被调整为彼此不同的间距。出于该目的，图6所示的实施方式中的传感器提供了两个能够相对于彼此旋转的旋转元件，该旋转元件分别被连接到关于其旋转轴线偏心布置的测试触点探头。

通过这种传感器的技术性实施方式，在某些情况下，在相对于彼此可旋转的两个旋转元件之间的触点位置处会发生滑动。当传感器的使用者希望调节两个测试触点探头之间的间距时，这种滑动不利地导致旋转元件围绕它们自身的旋转轴线的非同时旋转，从而确定两个测试触点元件的非对称的位置变化。而且，由于滑动，通过这种传感器不能确保两个测试触点元件将必定保持在由使用者所设置的间距处。

发明内容

因此，本发明的目的是提供一种用于测量差分信号的传感器，一方面，该传感器保证了按照使用者的要求同时的对称调节两个测试触点元件的位置，另一方面，该传感器保证了两个测试触点元件保持在由使用者所设置的间距处。

通过具有权利要求1的特征的用于测量差分信号的传感器的适配器，实现了该目的。在从属权利要求中指明有利的技术方案。

适配器包括两个导电的测试触点元件和两个调节部件，所述测试触点元件在各个情况下相对于旋转轴线偏心布置且分别测量差分信号的局部信号，所述调节部件分别围绕两个旋转轴线中的一个是可旋转的，以便调节两个测试触点元件之间的可变的间距，根据本发明，所述调节部件以与彼此压配连接方式布置。

作为每个测试触点元件相对于旋转轴线偏心的结果，以及作为每个调节部件相对于两个旋转轴线中的一个的可旋转的结果，原则上可以在给定的调节范围内，以很多种方式调节两个测试触点元件之间的任何所需的间距，所述的调节范围指定为偏心距的长度的两倍。通过调节部件实现两个测试触点元件之间的可变的间距的调节，所述调节部件优选是电绝缘的，因此在测量差分信号期间，使用传感器的人的手指可以触摸所述调节部件，所以所述调节部件实现为可调节的。

根据本发明，两个调节部件以压配的方式被连接到彼此。从而，优选地，两个调节部件同时旋转，因此，两个测试触点元件总是有利地以对称的方式改变它们的位置。作为另一个技术优势，在两个调节部件之间的压配连接允许适配器的自限制，结果是，在通过使用者调节之后，两个测试触点元件保持在由使用者设定的相对于彼此的间距处。

在本发明的一个优选的第一实施方式中，通过在两个调节部件(这两个调节部件以互锁啮合于彼此的方式布置)的基本上旋转对称的元件上所提供的外齿，实现两个调节部件之间的压配连接。在本发明的第二实施方式中，通过摩擦力实现压配连接，所述摩擦力作用在呈现在两个调节部件的基本上旋转对称的元件上的两个延伸面之间，这两个延伸面可被涂有或设有弹性带，尤其是橡胶带。

因此，围绕调节部件的旋转轴线可旋转且以可旋转的方式与传感器基部元件的连接部连接的导电轴、测试触点元件、和用于在轴和测试触点元件之间偏心连接的导电连接部，优选被集成在各个调节部件中。

以此方式，一方面，在测试触点元件和传感器基部元件的连接部之间实现了电连接，另一方面，实现了测试触点元件围绕延伸贯穿传感器基部元件的连接部的旋转轴线的可旋转的调节。

通过连接部实现偏心，允许使用标准部件，与和偏心的测试触点元件实现为单一部件方案的杆相比，所述标准部件与制成单一部件的杆以及测试触点元件，可按照多部件方案更加有成本优势地被制造。

此外，因此，两个连接部和两个调节部件优选相对于彼此定向，以使得对于相对于平面的各个所调节的间距，测试触点元件对称地布置，所述平面相对于两个杆之间的连接直线成直角设置在两个杆的中间。

根据用途，优选地，两个测试触点元件可实现为测试触点探头或测试触点插座。