[发明专利]目标粒子的检测方法有效
| 申请号: | 201280070030.9 | 申请日: | 2012-12-04 |
| 公开(公告)号: | CN104115003A | 公开(公告)日: | 2014-10-22 |
| 发明(设计)人: | 中田秀孝 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
| 主分类号: | G01N21/77 | 分类号: | G01N21/77;G01N21/64;G01N21/78 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 目标 粒子 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及使用共聚焦显微镜或多光子显微镜的光学系统等能够检测到来自溶液中的微小区域的光的光学系统,从而检测目标粒子的方法。
背景技术
随着近年来光学测量技术的发展,使用共聚焦显微镜的光学系统和能够进行光子计数(单光子检测)的超高灵敏度的光检测技术,能够检测/测定单光子或一分子荧光水平的微弱光。因此,提出了使用这样的微弱光的检测技术,进行生物分子等的分子间相互作用或者分子间的结合/解离反应的检测的各种装置或方法。特别是,通过应用荧光相关光谱分析(Fluorescence Correlation Spectroscopy:FCS)、荧光强度分布分析(Fluorescence-Intensity Distribution Analysis:FIDA)等、使用了共聚焦显微镜的光学系统和光子计数技术的微小区域(显微镜的激光聚光而成的焦点区域,被称为共焦体积)的荧光测定技术的方法,测定所必需的试样的浓度比以前低得多且可以是微量(每次测定使用的量最多数十μL左右),测定时间也大幅地缩短(每次测定中可重复进行数次的秒数量级时间的测定。
最近,提出了使用共聚焦显微镜或多光子显微镜的光学系统等、能够检测到来自溶液中的微小区域的光的光学系统,一边在试样溶液内移动作为光的检测区域的微小区域的位置,一边逐个地检测在该微小区域内出入的发光粒子(发出光的粒子)的新颖方式的光分析技术(扫描分子计数法)(例如,参照专利文献1~3)。扫描分子计数法为如下技术:具体而言,使用共聚焦显微镜或多光子显微镜的光学系统,一边在试样溶液内移动前述光学系统的光检测区域的位置,一边检测由该光检测区域中的发光粒子发出的光,由此一个一个地逐个检测试样溶液中的发光粒子,能够取得关于发光粒子的计数、试样溶液中的发光粒子的浓度或数密度的信息。
扫描分子计数法的光检测机理自身与FIDA等光分析技术的情况相同,采取对来自共聚焦显微镜或多光子显微镜的光检测区域的光进行检测的构成,所以与FIDA等同样地,试样溶液的量可以是微量(例如数十μL左右)的,另外,测定时间也缩短。另一方面,扫描分子计数法与需要计算出荧光强度的波动这样的统计学处理的FIDA等不同,不需要实行这样的统计学处理。因此,扫描分子计数法的光分析技术能够适用于粒子的数密度或浓度大幅地低于FIDA等光分析技术所需要的水平的试样溶液。即,利用扫描分子计数法检测被发光探针标记的试样溶液中的目标粒子(观测对象粒子),即便在试样溶液中的目标粒子的浓度或数密度非常低的情况下,也能够检测并解析目标粒子的状态或特性(参照例如专利文献4)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:国际公开第2011/108369号
专利文献2:国际公开第2011/108370号
专利文献3:国际公开第2011/108371号
专利文献4:国际公开第2012/014778号
发明内容
发明要解决的问题
通过使作为检测对象的目标粒子与发光探针结合而间接地检测目标粒子的情况下,通常使一分子的目标粒子与一分子的发光探针结合。即,使用扫描分子计数法等一分子光检测技术检测用发光探针标记的目标粒子的情况下,由一分子的目标粒子只产生一个信号源。因此,试样溶液中的目标粒子的浓度非常低的情况下,由于信号降低,所以存在需要长时间的测定、或者达不到高的检测灵敏度的问题。
本发明目的在于提供一种方法,其在使用发光探针间接地检测目标粒子的方法中,使用一分子光检测技术高灵敏度地检测目标粒子,所述一分子光检测技术使用了共聚焦显微镜或多光子显微镜的光学系统等能够检测到来自溶液中的微小区域的光的光学系统。
用于解决问题的方案
本发明人等为了解决上述问题,经过深入研究,结果发现,通过重复数次使与目标粒子结合的发光探针与游离发光探针分离后将其回收之后、与该目标粒子解离后将其回收这样的工序,能够使一分子的目标粒子产生多个信号源(发光探针),至此完成本发明。
即,本发明的目标粒子的检测方法为以下的(1)~(11)。
(1)一种目标粒子的检测方法,其为使用发光探针间接地检测在溶液中分散并随机运动的粒子的方法,其包括如下工序:
进行如下(a)~(d):
(a)调制包含作为检测对象的目标粒子、和与前述目标粒子直接或间接地结合的一种以上的发光探针的溶液的工序;
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