[发明专利]自动样品注入装置有效
| 申请号: | 201280069259.0 | 申请日: | 2012-12-21 |
| 公开(公告)号: | CN104105962B | 公开(公告)日: | 2016-11-30 |
| 发明(设计)人: | 湊浩之 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号: | G01N30/24 | 分类号: | G01N30/24;G01N35/10 |
| 代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 肖华 |
| 地址: | 日本京都府京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 自动 样品 注入 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种自动样品注入装置。
背景技术
在液相色谱仪或离子色谱仪等中,采用自动样品注入装置,所述自动样品注入装置自动吸取分别容纳于样品容器的样品。自动样品注入装置为了从样品容器内吸取样品,用取样针向样品容器的针管刺穿位置进行刺穿。此时,为了准确地掌握样品容器的针管刺穿位置,需要通过事先的调整取得对于预先规定的刺穿位置信息的修正信息。
又,通常是在被称为样品架的板状的架子上排列多个样品容器。样品架被配置在自动样品注入装置的样品架配置位置。取得样品架所设置的基准位置和针管间的位置关系的信息。基于该位置关系的信息,取得样品架上的全部样品容器的针管刺穿位置的修正信息。
现有技术文献
专利文献
专利文献1日本特开2000-146775号公报
发明内容
发明要解决的课题
自动样品注入装置中,取得针管刺穿位置的修正信息的调整按以下步骤进行:将样品架配置在自动样品注入装置,人为地进行操作以使针管细微地移动至样品架上的基准位置点,使针管顶端到达基准位置时的位置信息存储在自动样品注入装置(例如参照专利文献1)。
为了取得样品架的基准位置,需要操作者对自动样品注入装置进行精密操作,有耗费工时的问题。
本发明的目的在于,提供一种能够自动得到样品架的基准位置信息的自动样品注入装置。
用于解决问题的手段
本发明所涉及的自动样品注入装置包括:能够装填多个样品容器的样品架;用于吸取容纳于上述样品容器内的样品的取样针;控制部,所述控制部对使上述针管相对于样品架在水平面以及垂直方向上相对移动的动作,以及样品的吸取以及注入动作进行控制;基准部位,所述基准部位被配置于上述样品架的规定位置,所述基准部位在水平截面的内壁面形状为点对象,且具有规定深度的凹部;以及检测部,所述检测部用于对上述基准部位和上述针管的接触进行电检测。上述控制部在使上述针管的顶端移动至上述基准部位内后,使上述针管向上述水平面内的X方向的正负两方向以及在上述水平面内与上述X方向正交的Y方向的正负两方向、及上述垂直方向即Z方向移动,直到基于上述检测部的检测信息检测出上述基准部位和上述针管的接触,基于上述基准部位和上述针管的接触位置,计算出上述基准部位的上述内壁面形状的对称中心的位置作为上述基准部位的X位置以及Y位置,将上述基准部位的底面的位置作为上述基准部位的Z位置,基于上述基准部位的X位置、Y位置以及Z位置得到上述样品架的基准位置信息。
本发明的自动样品注入装置中,为了得到样品架的基准位置信息,使针管在X方向、Y方向、Z方向的各方向上移动的顺序是任意的。又,基准部位的X位置的计算、Y位置的计算、Z位置的计算的顺序也是任意的
本发明的自动样品注入装置中,上述样品架在互相不同位置上具有两个以上的上述基准部位,上述控制部也可以对于多个上述基准部位分别计算出基准部位的X位置、Y位置以及Z位置。但是,在样品架也可以是仅设置一个基准部位的结构。
又,能够列举下述实例:上述控制部使所述针管在上述基准部位内在上述X方向或者上述Y方向移动,计算上述基准部位的X位置或者Y位置,使上述针管从得到的X位置或者Y位置在上述Y方向或者上述X方向移动,计算上述基准部位的Y位置或者X位置,使上述针管从得到的Y位置或者X位置在上述X方向或者上述Y方向再次移动,再次计算上述基准部位的X位置或者Y位置,使上述针管从再次得到的X位置或者Y位置在上述Y方向或者上述X方向上再次移动,再次计算上述基准部位的Y位置或者X位置。
但是,基准部位的X位置的计算和Y位置的计算也可以分别进行一次。又,基准部位的X位置的计算和Y位置的计算的次数也可以彼此不同。又,基准部位的X位置的计算和Y位置的计算也可以分别进行三次。另外,在基准部位的X位置的计算和Y位置的计算中至少一个的计算进行多次时,交替进行X位置的计算和Y位置的计算。
又,上述基准部位也可以在与其底面的中央相距规定的间隔的位置或者侧面上具备用于排液的贯通孔。
又,能够列举以下实例:上述基准部位能够装卸地配置在上述样品架的上述样品容器的安装位置。但是,基准部位也可以被固定或者能够装卸地被配置在与样品容器的安装位置不同的位置上。
发明效果
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