[发明专利]具有堆叠的存储器的CPU无效
申请号: | 201280068123.8 | 申请日: | 2012-11-29 |
公开(公告)号: | CN104094402A | 公开(公告)日: | 2014-10-08 |
发明(设计)人: | 潘弘柏 | 申请(专利权)人: | 考文森智财管理公司 |
主分类号: | H01L25/18 | 分类号: | H01L25/18;G06F15/78;G11C11/401 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人: | 王勇;李科 |
地址: | 加拿大*** | 国省代码: | 加拿大;CA |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 堆叠 存储器 cpu | ||
1.一种多芯片封装,包括:
具有用于连接到外部装置的电接触的衬底;
在所述衬底上布置的且与所述衬底通信的CPU裸片;
所述CPU裸片包括:
占用所述CPU裸片的第一区域的多个处理器核心;以及
占用所述CPU裸片的第二区域的SRAM高速缓存;以及
在所述CPU裸片上布置的且与所述CPU裸片通信的DRAM高速缓存,
所述DRAM高速缓存包括多个堆叠的DRAM裸片,
所述多个堆叠的DRAM裸片与所述CPU裸片的第二区域基本对准;以及
所述多个堆叠的DRAM裸片基本不覆盖所述CPU裸片的第一区域。
2.根据权利要求1所述的多芯片封装,还包括:
在所述CPU裸片上布置的且与所述CPU裸片的第一区域基本对准的块状材料。
3.根据权利要求2所述的多芯片封装,其中:
所述块状材料具有与所述多个堆叠的DRAM裸片的上表面基本共面的上表面。
4.根据权利要求3所述的多芯片封装,还包括:
在所述块状材料的上表面和在所述多个堆叠的DRAM裸片的上表面上布置的芯片,所述芯片与所述CPU裸片通信。
5.根据权利要求4所述的多芯片封装,其中:
所述芯片和所述多个DRAM裸片经由硅通孔(TSV)与所述CPU裸片通信。
6.根据权利要求5所述的多芯片封装,其中至少一些TSV穿过所述块状材料。
7.根据权利要求1所述的多芯片封装,还包括在所述多个堆叠的DRAM裸片的上表面上布置的热沉。
8.根据权利要求1所述的多芯片封装,还包括在所述CPU裸片的第一区域的上表面上布置的热沉。
9.根据权利要求2所述的多芯片封装,还包括在所述块状材料的上表面上布置的热沉。
10.根据权利要求3所述的多芯片封装,还包括在所述块状材料的上表面和在所述多个堆叠的DRAM裸片的上表面上布置的热沉。
11.根据权利要求1所述的多芯片封装,还包括在所述CPU裸片上布置的且与所述CPU裸片的第一区域基本对准的至少一个裸片,所述至少一个裸片包括至少一个附加的处理器核心。
12.一种多芯片封装,包括:
具有用于连接到外部装置的电接触的衬底;
在所述衬底上布置的且与CPU裸片通信的DRAM高速缓存,所述DRAM高速缓存包括多个堆叠的DRAM裸片;
在所述衬底上布置的块状材料;以及
在所述DRAM高速缓存与所述衬底上布置的CPU裸片,所述CPU裸片与所述衬底通信,所述CPU裸片包括:
占用所述CPU裸片的第一区域的多个处理器核心;以及
占用所述CPU裸片的第二区域的SRAM高速缓存;
所述多个堆叠的DRAM裸片与所述CPU裸片的第二区域基本对准;以及
所述块状材料与所述CPU裸片的第一区域基本对准。
13.根据权利要求12所述的多芯片封装;其中:
所述块状材料具有与所述多个堆叠的DRAM裸片的上表面基本共面的上表面。
14.根据权利要求12所述的多芯片封装;其中:
所述衬底和所述多个DRAM裸片经由硅通孔(TSV)与所述CPU裸片通信。
15.根据权利要求14所述的多芯片封装,其中至少一些TSV穿过所述块状材料。
16.根据权利要求12所述的多芯片封装,还包括在所述CPU裸片的上表面上布置的热沉。
17.根据权利要求12所述的多芯片封装,还包括在所述块状材料的上表面上布置的且与所述CPU裸片的第一区域基本对准的至少一个裸片,所述至少一个裸片包括至少一个附加的处理器核心。
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