[发明专利]具有堆叠的存储器的CPU无效

专利信息
申请号: 201280068123.8 申请日: 2012-11-29
公开(公告)号: CN104094402A 公开(公告)日: 2014-10-08
发明(设计)人: 潘弘柏 申请(专利权)人: 考文森智财管理公司
主分类号: H01L25/18 分类号: H01L25/18;G06F15/78;G11C11/401
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人: 王勇;李科
地址: 加拿大*** 国省代码: 加拿大;CA
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摘要:
搜索关键词: 具有 堆叠 存储器 cpu
【权利要求书】:

1.一种多芯片封装,包括:

具有用于连接到外部装置的电接触的衬底;

在所述衬底上布置的且与所述衬底通信的CPU裸片;

所述CPU裸片包括:

占用所述CPU裸片的第一区域的多个处理器核心;以及

占用所述CPU裸片的第二区域的SRAM高速缓存;以及

在所述CPU裸片上布置的且与所述CPU裸片通信的DRAM高速缓存,

所述DRAM高速缓存包括多个堆叠的DRAM裸片,

所述多个堆叠的DRAM裸片与所述CPU裸片的第二区域基本对准;以及

所述多个堆叠的DRAM裸片基本不覆盖所述CPU裸片的第一区域。

2.根据权利要求1所述的多芯片封装,还包括:

在所述CPU裸片上布置的且与所述CPU裸片的第一区域基本对准的块状材料。

3.根据权利要求2所述的多芯片封装,其中:

所述块状材料具有与所述多个堆叠的DRAM裸片的上表面基本共面的上表面。

4.根据权利要求3所述的多芯片封装,还包括:

在所述块状材料的上表面和在所述多个堆叠的DRAM裸片的上表面上布置的芯片,所述芯片与所述CPU裸片通信。

5.根据权利要求4所述的多芯片封装,其中:

所述芯片和所述多个DRAM裸片经由硅通孔(TSV)与所述CPU裸片通信。

6.根据权利要求5所述的多芯片封装,其中至少一些TSV穿过所述块状材料。

7.根据权利要求1所述的多芯片封装,还包括在所述多个堆叠的DRAM裸片的上表面上布置的热沉。

8.根据权利要求1所述的多芯片封装,还包括在所述CPU裸片的第一区域的上表面上布置的热沉。

9.根据权利要求2所述的多芯片封装,还包括在所述块状材料的上表面上布置的热沉。

10.根据权利要求3所述的多芯片封装,还包括在所述块状材料的上表面和在所述多个堆叠的DRAM裸片的上表面上布置的热沉。

11.根据权利要求1所述的多芯片封装,还包括在所述CPU裸片上布置的且与所述CPU裸片的第一区域基本对准的至少一个裸片,所述至少一个裸片包括至少一个附加的处理器核心。

12.一种多芯片封装,包括:

具有用于连接到外部装置的电接触的衬底;

在所述衬底上布置的且与CPU裸片通信的DRAM高速缓存,所述DRAM高速缓存包括多个堆叠的DRAM裸片;

在所述衬底上布置的块状材料;以及

在所述DRAM高速缓存与所述衬底上布置的CPU裸片,所述CPU裸片与所述衬底通信,所述CPU裸片包括:

占用所述CPU裸片的第一区域的多个处理器核心;以及

占用所述CPU裸片的第二区域的SRAM高速缓存;

所述多个堆叠的DRAM裸片与所述CPU裸片的第二区域基本对准;以及

所述块状材料与所述CPU裸片的第一区域基本对准。

13.根据权利要求12所述的多芯片封装;其中:

所述块状材料具有与所述多个堆叠的DRAM裸片的上表面基本共面的上表面。

14.根据权利要求12所述的多芯片封装;其中:

所述衬底和所述多个DRAM裸片经由硅通孔(TSV)与所述CPU裸片通信。

15.根据权利要求14所述的多芯片封装,其中至少一些TSV穿过所述块状材料。

16.根据权利要求12所述的多芯片封装,还包括在所述CPU裸片的上表面上布置的热沉。

17.根据权利要求12所述的多芯片封装,还包括在所述块状材料的上表面上布置的且与所述CPU裸片的第一区域基本对准的至少一个裸片,所述至少一个裸片包括至少一个附加的处理器核心。

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