[发明专利]分子感测设备

权利要求书

1.一种分子感测设备，包括：

基底；

阱，其i）在定位在基底的表面上的材料中形成，或者ii）在基底的表面中形成；

定位在阱中的信号放大结构；以及

分子选择性设备，其与阱操作地接触地可移除地定位。

2.如权利要求1所述的分子感测设备，其中分子选择性设备是具有分子量阈值的薄膜。

3.如权利要求2所述的分子感测设备，其中从具有等于或小于100 μm的厚度的纤维素薄膜和多孔无机薄膜选择薄膜。

4.如权利要求2所述的分子感测设备，其中薄膜可移除地结合到相邻于阱的基底或材料的区域。

5.如权利要求1所述的分子感测设备，其中分子选择性设备是固体萃取柱，其包括：

外壳；以及

包装在外壳之内的分子萃取材料。

6.如权利要求5所述的分子感测设备，进一步包括多孔薄膜，其连接到外壳以将分子萃取材料维持在外壳之内。

7.如权利要求5所述的分子感测设备，其中从交联聚合物球、二氧化硅球、玻璃球、氧化铝球、聚苯乙烯球、功能化球或者它们的组合选择分子萃取材料。

8.如权利要求1所述的分子感测设备，进一步包括并入到阱中的惰性流体。

9.如权利要求1所述的分子感测设备，其中信号放大结构是Raman光谱学增强结构。

10.如权利要求1所述的分子感测设备，其中设备包括：

离散的阱的阵列，其i）在定位在基底的表面上的材料中形成，或者ii）在基底的表面中形成;

各个信号放大结构，其在离散的阱中的每个中；以及

各个分子选择性设备，其与离散的阱中的每个操作地接触地、可移除地定位。

11.一种用于使用如权利要求1所述的分子感测设备的方法，所述方法包括：

当分子选择性设备与阱操作地接触地定位时，将分子选择性设备暴露于样本，以将通过分子选择性设备过滤的成分引入到阱；

将分子选择性设备从基底移除；以及

关于阱中的成分执行感测技术。

12.一种表面增强Raman光谱学（SERS）感测系统，其包括：

如权利要求1所述的分子感测设备；

样本，其包含将通过分子选择性设备过滤的并且被引入到分子感测设备的阱中的成分；以及

Raman读取器，其关于分子选择性设备的阱操作地定位。

13.一种用于制造分子感测设备的方法，所述方法包括：

i）在定位在基底的表面上的材料中或者ii）在基底的表面中形成阱；

在阱中形成信号放大结构；以及

将分子选择性设备可移除地定位为与阱操作地接触。

14.如权利要求13所述的方法，其中将分子选择性设备可移除地定位包括将具有分子量阈值的薄膜可移除地结合到基底，使得薄膜覆盖阱。

15.如权利要求13所述的方法，其中将分子选择性设备可移除地定位包括将固体萃取柱放置在基底上，使得包装在固体萃取柱的外壳之内的分子萃取材料从阱间隔开并且被定位在阱上。