[发明专利]具有波长测量功能的波长可变形激光装置有效
| 申请号: | 201280066954.1 | 申请日: | 2012-11-28 |
| 公开(公告)号: | CN104040810A | 公开(公告)日: | 2014-09-10 |
| 发明(设计)人: | 金定洙 | 申请(专利权)人: | 株式会社伏沃 |
| 主分类号: | H01S5/06 | 分类号: | H01S5/06;H01S5/0683;H01S5/02 |
| 代理公司: | 北京京万通知识产权代理有限公司 11440 | 代理人: | 齐晓静 |
| 地址: | 韩国大*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 具有 波长 测量 功能 变形 激光 装置 | ||
1.一种具有波长测量功能的波长可变形激光装置,其为包括发出激光的激光二极管芯片、用于准直激光的准直镜片、供选择的波长透射的波长选择性滤波器、具有倾斜的反射面的反射镜的晶体管外形罐型波长可变形激光装置,其特征在于,
将激光区分为从所述激光二极管芯片(100)发出并通过准直镜片(200)准直后,通过45度反射镜(300)反射到晶体管外形罐型封装的外部的光和透射45度反射镜(300)的光,
将透射所述45度反射镜(300)的光分为至少两束光后,在一束光的路径上设置用于检测光的第一光电二极管(510),在另一束光的路径上设置透射率随着波长发生变化的波长选择性滤波器(400)、(600)和第二光电二极管(520)。
2.根据权利要求1所述的具有波长测量功能的波长可变形激光装置,其特征在于,在所述波长选择性滤波器(400),在激光入射的一侧面形成层压透射率/反射率不会随着波长发生变化的电介质薄膜的反射面(410),在另一侧面形成电镀透射率/反射率随着波长发生改变的波长选择性滤波器的基板反射面(420)。
3.根据权利要求1所述的具有波长测量功能的波长可变形激光装置,其特征在于,在所述波长选择性滤波器(600)中,在所述激光入射的一侧面形成有层压透射率/反射率随着波长发生改变的薄膜的反射面(610),在另一侧面形成有无反射面(620)。
4.一种波长可变形激光装置的波长测量方法,在权利要求1至3中任一项所述的波长可变形激光装置中,其特征在于,比较通过所述第一光电二极管(510)和第二光电二极管(520)感应到的激光的强度,然后决定从所述激光二极管芯片(100)发出的激光的波长。
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