[发明专利]图像处理装置、摄像装置、显微镜系统、图像处理方法以及图像处理程序有效

专利信息
申请号: 201280063454.2 申请日: 2012-09-27
公开(公告)号: CN104011580A 公开(公告)日: 2014-08-27
发明(设计)人: 堀江原 申请(专利权)人: 奥林巴斯株式会社
主分类号: G02B21/36 分类号: G02B21/36;G03B37/00;G06T1/00;H04N5/225;H04N5/232;H04N5/243
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 装置 摄像 显微镜 系统 方法 以及 程序
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种针对拍摄被摄体得到的图像实施图像处理的图像处理装置、摄像装置、显微镜系统、图像处理方法以及图像处理程序。

背景技术

在照相机、显微镜等光学设备中,通常由于透镜等成像光学系统的特性,产生相比于与光轴正交的面内的中心而周围区域的光量下降的现象。这种现象一般被称为暗影。因此,以往根据通过经验获得的校正值、实测值等对摄像后的图像实施图像处理,由此抑制了图像的劣化。这种图像处理被称为暗影校正(例如,参照专利文献1和2)。

另外,显微镜能够进行高倍率且高分辨率的被摄体(标本)观察,另一方面,存在使倍率越高则一次能够观察的视场越窄这样的问题。因此,有时进行如下图像处理:针对一个标本一边移动视场一边进行摄像来获取多个图像,并将这些图像拼接在一起,由此合成出视场被扩大为与整个标本对应的大小而得到的图像。这样的进行视场扩大处理得到的连结图像被称为虚拟切片(virtual slide)图像,能够获取虚拟切片图像的显微镜系统被称为虚拟切片系统或虚拟显微镜系统(例如,参照专利文献3和4)。

专利文献1:日本特开2009-159093号公报

专利文献2:日本特开2004-272077号公报

专利文献3:日本特开2008-191427号公报

专利文献4:日本特开2011-141391号公报

发明内容

发明要解决的问题

可是,在将多个图像拼接在一起得到的连结图像中,在个别图像中产生的暗影的影响有规律地出现。因此,暗影对连结图像的画质产生的影响特别大。因而,针对个别图像进行高精度的暗影校正很重要。

一般地,使用在载置台上不放置被摄体的状态下拍摄视场得到的校准图像来进行显微镜图像的暗影校正(参照专利文献1)。然而,即使是相同的显微镜,也存在拍摄校准图像时和拍摄被摄体时暗影的状态发生了变化的情况。因此,还提出了如下技术(参照专利文献2):不使用预先准备的校准图像而是根据拍摄有被摄体的校正对象图像来制作暗影校正用的数据,使用该暗影校正用数据对该校正对象图像进行暗影校正。

然而,在校正对象图像中除了包含源自暗影的亮度成分以外,还包含有源自被摄体的亮度成分等各种成分,很难将源自暗影的亮度成分与其它成分进行区分。因此,如果使用根据校正对象图像制作出的暗影校正用数据,则导致针对如源自被摄体的亮度成分那样本来不应该校正的成分也进行了校正。而且,像这样暗影校正的精度下降的结果有可能在校正后的图像中产生伪影等,反而导致画质下降。

本发明是鉴于上述情形而完成的,其目的在于提供一种能够使用校正对象图像的图像数据来进行高精度的暗影校正的图像处理装置、摄像装置、显微镜系统、图像处理方法以及图像处理程序。

用于解决问题的方案

为了解决上述课题并达到目的,本发明所涉及的图像处理装置具备:图像输入单元,其被输入具有被摄体的至少一部分共同的部分的多个图像;以及校正图像制作单元,其制作对上述多个图像进行校正时使用的校正用图像,上述校正图像制作单元具有:差分获取单元,其从上述多个图像中的具有被摄体共同的共同部分的两个任意图像获取像素的亮度的差分;以及暗影检测单元,其根据上述差分来检测上述任意图像中的暗影成分。

在上述图像处理装置中,其特征在于,上述校正图像制作单元还具有图像调整单元,该图像调整单元进行上述任意图像的位置调整,使上述共同部分的上述被摄体一致,上述差分获取单元在由上述图像调整单元进行了位置调整后的状态下获取上述差分。

在上述图像处理装置中,其特征在于,上述校正图像制作单元还具有暗影估计单元,该暗影估计单元根据上述暗影成分,对各图像内的上述共同部分以外的区域中的暗影的影响进行估计。

在上述图像处理装置中,其特征在于,上述多个图像是使摄像视场平行移动而拍摄到的图像。

在上述图像处理装置中,其特征在于,上述多个图像是改变摄像倍率而拍摄到的图像。

在上述图像处理装置中,其特征在于,上述多个图像是使摄像视场转动而拍摄到的图像。

本发明所涉及的摄像装置的特征在于,具备上述图像处理装置以及拍摄上述被摄体的摄像单元。

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