[发明专利]数字式线性致动器转子通量密度扫描方法和工具有效
申请号: | 201280063445.3 | 申请日: | 2012-12-12 |
公开(公告)号: | CN103998945A | 公开(公告)日: | 2014-08-20 |
发明(设计)人: | C.A.威尔顿;R.拉索卡斯 | 申请(专利权)人: | 大陆汽车系统公司 |
主分类号: | G01R31/34 | 分类号: | G01R31/34;H02K15/03;H02K15/16;F16H61/32 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 董均华;严志军 |
地址: | 美国密*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数字式 线性 致动器 转子 通量 密度 扫描 方法 工具 | ||
1. 一种用于测量表面的磁通量和跳动的方法,包括步骤:
设置数字式线性致动器(DLA);
设置转子,所述转子是所述DLA的部分;
设置连接至所述转子并外接所述转子的磁体,所述磁体具有外部表面;
设置具有磁体的磁体通量密度和磁体的跳动的标图;
同时测量转子的跳动和磁体通量密度;以及
在标图上一起标绘跳动和磁体通量密度以使跳动和磁体通量密度的测量值相关联。
2. 如权利要求1所述的用于测量表面的磁通量和跳动的方法,还包括步骤:
设置外部表面的第一截面;
设置外部表面的第二截面;
设置非接触测量传感器以测量在磁体的外部表面的第一截面上的跳动,并测量在磁体的外部表面的第二截面上的跳动;
设置高斯探头以用于测量接近磁体的外部表面的第一截面产生的磁体通量密度,并用于测量在磁体的外部表面的第二截面中产生的磁体通量密度;
使用所述高斯探头来测量第一截面中和第二截面中的磁体通量密度;
使用所述非接触测量传感器来测量第一截面中和第二截面中的跳动;
在标图上标绘在第一截面中和在第二截面中测量的磁体通量密度;以及
在标图上标绘在第一截面中和在第二截面中测量的跳动。
3. 如权利要求2所述的用于测量表面的磁通量和跳动的方法,还包括:
将第一截面设置成位于磁体的外部表面上的第一中心正中平分平面;
将第二截面设置成位于磁体的外部表面上的第二中心正中平分平面,以使得第二截面不同于第一截面;
测量第一截面和第二截面中的磁体通量密度;以及
测量第一截面和第二截面中的跳动。
4. 如权利要求1所述的用于测量表面的磁通量和跳动的方法,还包括将标图设置成雷达标图的步骤。
5. 如权利要求4所述的用于测量表面的磁通量和跳动的方法,还包括步骤:
设置多个瓣以便被形成为所述雷达标图的部分,所述多个瓣的每一个包括第一通量密度标图的一部分和第二通量密度标图的一部分;以及
设置所述多个瓣的一部分表示一个或多个北极,并且设置多个瓣的一部分表示一个或多个南极。
6. 如权利要求2所述的用于测量表面的磁通量和跳动的方法,还包括步骤:
设置第一通量密度标图,指示从第一截面测量的磁通量密度;
设置第一跳动标图,指示从第一截面测量的跳动;
设置第二通量密度标图,指示从第二截面测量的磁通量密度;
设置第二跳动标图,指示从第二截面测量的跳动;以及
标绘第一通量密度标图、第二通量密度标图、第一跳动标图和第二跳动标图,以使得在磁体的通量密度和磁体的跳动之间形成相关性。
7. 如权利要求1所述的用于测量表面的磁通量和跳动的方法,还包括设置用于测量磁通量和跳动的工具的步骤,高斯探头和非接触测量传感器是所述工具的部分。
8. 如权利要求7所述的用于测量表面的磁通量和跳动的方法,还包括步骤:
设置标示旋转头,所述标示旋转头是所述工具的部分;
设置连接至所述标示旋转头的角编码器;
设置连接至所述标示旋转头的轴;
设置连接至所述轴的夹具;
将转子安装在夹具中;
旋转标示旋转头以使得旋转力通过角编码器传递,旋转所述轴、所述夹具和所述转子;
利用角编码器来测量轴的角位置;
随着转子在夹具中旋转,使用高斯探头来测量转子的通量密度;以及
随着转子在夹具中旋转,使用非接触测量传感器来测量跳动。
9. 一种用于测量表面的磁通量和跳动的方法,包括步骤:
设置数字式线性致动器(DLA);
设置转子,所述转子是所述DLA的部分;
设置连接至所述转子并外接所述转子的磁体,所述磁体具有外部表面;
设置非接触测量传感器以测量在磁体的外部表面上的跳动;
设置高斯探头以测量在磁体的外部表面上的磁体通量密度;
同时测量跳动和磁体通量密度;以及
在标图上标绘跳动和磁体通量密度以使跳动和磁体通量密度的测量值相关联。
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