[发明专利]半导体装置及制造半导体装置的方法在审
申请号: | 201280062105.9 | 申请日: | 2012-12-12 |
公开(公告)号: | CN103999245A | 公开(公告)日: | 2014-08-20 |
发明(设计)人: | 徐源哲;赵大成;李贞勋;南基范 | 申请(专利权)人: | 首尔伟傲世有限公司 |
主分类号: | H01L33/16 | 分类号: | H01L33/16;H01L33/32;H01L21/20;H01L21/22 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 韩芳;王占杰 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 制造 方法 | ||
1.一种发光二极管(LED),包括:
导电基底;以及
氮化镓(GaN)基半导体堆叠件,位于导电基底上,
其中,半导体堆叠件包括作为半极性半导体层的活性层。
2.如权利要求1所述的LED,其中,GaN基半导体堆叠件包括生长在半极性GaN基底上的半导体层。
3.如权利要求2所述的LED,其中,半极性GaN基底是具有相对于c面以15度到85度的范围的角度倾斜的主面的错切半极性GaN基底。
4.如权利要求3所述的LED,其中,导电基底是半极性GaN基底。
5.如权利要求1所述的LED,其中,导电基底是金属基底。
6.如权利要求5所述的LED,所述发光二级管还包括位于导电基底和半导体堆叠件之间的反射层。
7.如权利要求1所述的LED,所述发光二级管还包括位于半导体堆叠件上的透明氧化物层。
8.如权利要求7所述的LED,其中,透明氧化物层具有凹凸图案。
9.如权利要求8所述的LED,其中,透明氧化物层包括氧化铟锡(ITO)或氧化锌(ZnO)。
10.如权利要求8所述的LED,其中,半导体堆叠件与透明氧化物层接触的上表面具有凹凸图案。
11.一种制造LED的方法,所述方法包括:
制备具有相对于c面以15度到85度范围的角度倾斜的主面的错切半极性GaN基底;以及
在半极性GaN基底上生长半极性GaN基半导体层,以形成半导体堆叠件。
12.如权利要求11所述的方法,所述方法还包括在半导体堆叠件上形成透明氧化物层。
13.如权利要求12所述的方法,其中,透明氧化物层具有凹凸图案。
14.如权利要求11所述的方法,所述方法还包括:
在半导体堆叠件上形成反射层;
将支撑基底附着在反射层上;以及
去除半极性GaN基底。
15.如权利要求14所述的方法,所述方法还包括:
在基底上形成半导体堆叠件之前,使用电化学蚀刻技术在半极性GaN基底上形成具有多孔结构的氮化物层。
16.如权利要求15所述的方法,其中,通过使用具有多孔结构的氮化物层将半极性GaN基底与半导体堆叠件分离。
17.如权利要求14所述的方法,所述方法还包括:
在去除半极性GaN基底之后,在半导体堆叠件的表面上形成凹凸图案。
18.如权利要求17所述的方法,所述方法还包括:
在半导体堆叠件上形成透明氧化物层。
19.如权利要求18所述的方法,其中,透明氧化物层具有凹凸图案。
20.如权利要求18所述的方法,其中,透明氧化物层包括ITO或ZnO。
21.一种制造半导体装置的方法,所述方法包括:
制备支撑基底;
在支撑基底的一个表面上形成纳米棒;以及
在纳米棒上形成种子层。
22.一种制造半导体装置的方法,所述方法包括:
沿水平方向将多个基底同时加载到半导体装置制造设备中;
对所述多个基底进行处理;以及
将所述多个基底同时从半导体装置制造设备卸载。
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