[发明专利]辐射探测器在审
申请号: | 201280061619.2 | 申请日: | 2012-12-12 |
公开(公告)号: | CN104024889A | 公开(公告)日: | 2014-09-03 |
发明(设计)人: | K·J·恩格尔;C·赫尔曼 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 刘瑜;王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射 探测器 | ||
1.一种辐射探测器,包括:
-辐射敏感半导体元件(10),其响应于辐射(3)的辐照来生成电子空穴对,
-阳极电极(20),其被布置在所述半导体元件(10)的面向所述辐射相反方向的第一表面(11)上,所述阳极电极(20)被分割成表示阳极像素的阳极段(21),其中,阳极间隙(22)被布置在所述阳极段(21)之间,
-阴极电极(30),其被布置在所述半导体元件(10)的与所述第一表面(11)相对并且面向所述辐射(3)方向的第二表面(12)上,所述阴极电极(30)被分割成第一阴极段(31)和第二阴极段(32),其中,所述第一阴极段(31)基本上被布置为与所述阳极段(21)相对,并且所述第二阴极段(32)基本上被布置为与所述阳极间隙(22)相对,以及
-阴极端子(41、42),其提供与所述第一阴极段(31)和所述第二阴极段(32)的电连接,以将不同的电势耦合到所述第一阴极段(31)和所述第二阴极段(32)。
2.如权利要求1所述的辐射探测器,
其中,所述第一阴极段(31)被布置为第一阴极段的阵列。
3.如权利要求1所述的辐射探测器,
其中,所述第一阴极段(31)在平行于所述第二表面(12)的方向中,具有与所述阳极段(21)相比基本上相同的形式。
4.如权利要求1所述的辐射探测器,
其中,所述第一阴极段(31)彼此分离,并且被各自耦合到第一阴极端子(41)。
5.如权利要求1所述的辐射探测器,
其中,所述第一阴极段(31a)被阴极连接电极(33a)耦合到一起形成组,尤其形成每行或每列,所述阴极连接电极(33a)被布置在所述半导体元件(10)的所述第二表面(12)上,所述组被各自耦合到第一阴极端子(41)。
6.如权利要求1所述的辐射探测器,
其中,所述第二阴极段(32)被布置为第二阴极段的网格。
7.如权利要求1所述的辐射探测器,
其中,所述第二阴极段(32a)被耦合到一起形成单个或多个组,所述单个或多个组被耦合到一个或多个第二阴极端子(42)。
8.如权利要求1所述的辐射探测器,
其中,所述阴极电极(30b)被分割成至少三个阴极段(31b、32b、33b),其中,所述第一阴极段(31b)基本上被布置为与所述阳极段(21)相对,并且另外的阴极段(32b、33b)被嵌套在所述第一阴极段(31b)周围,并且
其中,所述阴极端子提供与不同阴极段(31b、32b、33b)的电连接,以将不同的电势耦合到所述不同阴极段(31b、32b、33b)。
9.如权利要求1所述的辐射探测器,
其中,所述半导体元件(10)适于响应于X射线或伽马辐射的辐照来生成电子空穴对。
10.如权利要求1所述的辐射探测器,
其中,所述半导体元件(10)由以下材料制成:元素半导体材料,尤其是Si或Ge;选自周期系的IV组的二元半导体材料,尤其是SiGe或SiC;来自周期系的III组和V组的二元半导体材料,尤其是InP、GaAs或GaN;来自周期系的II组和VI组的二元半导体材料,尤其是CdTe、HgTe、CdSe或ZnS;来自周期系的IV组和VI组的二元半导体材料,尤其是PbO或PbS;三元半导体材料,尤其是CdZnTe、HgCdTe或AlGaAs;或者四元半导体材料,尤其是InGaAsP或InGaAlP。
11.如权利要求1所述的辐射探测器,还包括:
阳极间隙段(23c),其被布置在相邻的阳极段(21c)之间的所述阳极间隙(22c)内,以及
阳极端子(51、52),其提供与所述阳极间隙段(23c)的电连接,以将电势耦合到所述阳极间隙段(23c),尤其是比所述阳极段(21c)的电势更负的电势。
12.一种辐射探测装置,包括:
-如权利要求1所述的辐射探测器(2、2a、2b、2c),以及
-电压源(5),其被耦合到所述阴极端子(41、42),以将不同的电势耦合到所述第一阴极段(31)和所述第二阴极段(32)。
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