[发明专利]光电子半导体芯片有效
| 申请号: | 201280060298.4 | 申请日: | 2012-11-27 |
| 公开(公告)号: | CN103959489B | 公开(公告)日: | 2016-10-12 |
| 发明(设计)人: | M.曼德尔;M.施特拉斯堡;C.克尔佩尔;A.普法伊费尔;P.罗德 | 申请(专利权)人: | 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司 |
| 主分类号: | H01L33/24 | 分类号: | H01L33/24;H01L33/46;H01L33/18;H01L33/42;H01L33/08;H01L33/22 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 卢江;刘春元 |
| 地址: | 德国雷*** | 国省代码: | 德国;DE |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光电子 半导体 芯片 | ||
1.一种光电子半导体芯片,具有:
- 多个有源区(1),所述有源区彼此间隔地布置,以及
- 反射层(2),所述反射层被布置在所述多个有源区(1)的下侧(1a)上,其中
- 所述有源区(1)中的至少一个具有主延伸方向(R),
- 所述有源区(1)中的一个具有核心区(10),所述核心区利用第一半导体材料形成,
- 该有源区(1)具有有源层(11),所述有源层至少在横向于该有源区(1)的主延伸方向(R)的方向(x、y)上遮盖所述核心区(10),
- 该有源区(1)具有覆盖层(12),所述覆盖层利用第二半导体材料形成并且至少在横向于该有源区(11)的主延伸方向(R)的方向(x、y)上遮盖所述有源层(11),以及
- 所述反射层(2)被设立用于反射在运行中在所述有源层(11)中产生的电磁辐射。
2.根据上一权利要求所述的光电子半导体芯片,其中
- 所述有源区(1)基于氮化物化合物半导体材料,
- 所述第一半导体材料外延地沉积到生长衬底(6)上,其中所述光电子半导体芯片没有所述生长衬底(6),
- 所述第一半导体材料的生长方向(z)基本上平行于所述主延伸方向(R),
- 所述有源区(1)的至少大部分具有在主延伸方向(R)上所确定的长度(L)和在垂直于主延伸方向(R)的平面中所确定的直径(D),其中长度(L)与直径(D)之比为至少3,
- 所述有源区(1)的至少大部分具有电流扩展层(13),所述电流扩展层至少在横向于主延伸方向(R)的方向(x、y)上遮盖所述覆盖层(12),其中所述电流扩展层(13)对于在运行中在所述有源层(11)中产生的电磁辐射是可穿透的,
- 所述电流扩展层(13)利用透明导电氧化物形成,
- 所述电流扩展层(13)在该有源区(1)的长度(L)的至少大部分上延伸,
- 绝缘材料(4)被布置在所述多个有源区(1)之间,其中所述绝缘材料(4)对于在运行中在所述有源层(11)中产生的电磁辐射是可穿透的并且所述绝缘材料(4)至少在横向于主延伸方向(R)的方向(x、y)上包围所述有源区(1),
- 所述绝缘材料(4)至少部分地直接与电流扩展层(13)邻接,
- 所述反射层(2)部分地直接与所述绝缘材料(4)邻接,以及
- 所述有源区(1)的至少大部分在其朝向所述反射层(2)的下侧(5a)上具有钝化层(14),所述钝化层直接与该有源区(1)的核心区(10)和所述反射层(2)邻接。
3.根据权利要求1所述的光电子半导体芯片,
其中所述第一半导体材料外延地沉积到生长衬底(6)上,其中所述光电子半导体芯片没有所述生长衬底(6)。
4.根据上一权利要求所述的光电子半导体芯片,
其中所述第一半导体材料的生长方向(z)基本上平行于主延伸方向(R)。
5.根据上述权利要求之一所述的光电子半导体芯片,
其中该有源区(1)具有在主延伸方向(R)上所确定的长度(L)并且该有源区(1)具有在垂直于主延伸方向(R)的平面中所确定的直径(D),其中长度(L)与直径(D)之比为至少3。
6.根据上述权利要求之一所述的光电子半导体芯片,
其中该有源区(1)具有电流扩展层(13),所述电流扩展层至少在横向于主延伸方向(R)的方向(x、y)上遮盖所述覆盖层(12),其中所述电流扩展层(13)对于在运行中在所述有源层(11)中产生的电磁辐射是可穿透的。
7.根据上一权利要求所述的光电子半导体芯片,
其中所述电流扩展层(13)利用透明导电氧化物形成。
8.根据上述两个权利要求之一所述的光电子半导体芯片,
其中所述电流扩展层(13)在该有源区(1)的长度(L)的至少大部分上延伸。
9.根据上述权利要求之一所述的光电子半导体芯片,
其中绝缘材料(4)被布置在所述多个有源区(1)之间,其中所述绝缘材料(4)对于在运行中在所述有源层(11)中产生的电磁辐射是可穿透的并且所述绝缘材料(4)至少在横向于主延伸方向(R)的方向(x、y)上包围所述有源区(1)。
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