[发明专利]使用干涉滤光片的光模块有效
申请号: | 201280057732.3 | 申请日: | 2012-10-30 |
公开(公告)号: | CN104126139B | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | 加藤隆司;桐山智晶 | 申请(专利权)人: | 湖北工业株式会社 |
主分类号: | G02B6/26 | 分类号: | G02B6/26 |
代理公司: | 北京北翔知识产权代理有限公司11285 | 代理人: | 钟守期,侯婧 |
地址: | 日本滋贺*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 使用 干涉滤光片 模块 | ||
技术领域
本发明涉及一种使用干涉滤光片的光模块,具体涉及抑制这种光模块中漫射光的技术。
背景技术
干涉滤光片包括玻璃基板以及在其上形成的电介质薄膜,可以透过特定波长范围的光,反射其他波长的光。这种干涉滤光片用于诸如构成光通讯系统的光模块,以便分离光通讯所需要的波长范围的光和其他波长的光(噪音)。图1A和图1B表示了使用干涉滤光片3的光模块1的结构。图1A是用包含光轴5的剖面将光模块1剖开的剖面图。图1B是图1A所示圆内部分的放大图。在光模块1中,由套管(61、62)支持的2条光纤(41、42)以开口端(43、44)相向的方式设置在光轴5上,相向的开口端(43、44)之间形成光路。从一侧的光纤41射入光(输入光)Lin,就会在另一侧的光纤42射出输出光Lout。
如果将光轴5的延伸方向设为前后方向,干涉滤光片3被设置在光纤(41、42)的开口端(43、44)之间,位于前后方向的中央附近。在干涉滤光片3的前后分别设有准直透镜(51、52)。此外,图示的光模块1具有在收纳干涉滤光片3的滤光片箱2的前后分别连接准直器(33、34)的结构。准直器(33、34)是在镜筒(31、32)内收纳支持有光纤(41、42)的套管(61、62)以及准直透镜(51、52)而构成。
以下结合图1A和图1B对光模块1的工作过程加以说明。为了便于识别从输入侧光纤41射向干涉滤光片3的光路(往路)和从干涉滤光片3射向输入侧光纤41的光路(归路),在图中只表示出相对于光轴5对称存在的光路的一方。在光模块1中,从光源向输入侧(前方)光纤41射入的输入光Lin将在光纤41的开口端(后端)43射出,该射出光经过准直透镜51形成平行的入射光L1射入干涉滤光片3。干涉滤光片3只允许入射光L1中特定波长范围的光通过到后方。透射光L2通过后方的准直透镜52与输出侧(后方)的光纤42的开口端(前端)44相结合。而没有通过干涉滤光片3的反射光L3被反射。如此例所示,从光的输入侧到输出侧的光路是在一条直线上,在这种光模块1中,为了防止由干涉滤光片3反射的反射光L3直接入射到输入侧的准直透镜51并与输入侧的光纤41相结合,将干涉滤光片3的入射面法线4相对光轴5倾斜约2°~5°,以便使滤光片箱2的内壁能够吸收干涉滤光片3的反射光L3。
但是,由干涉滤光片3反射的反射光L3尽管被反射到滤光片箱2的内壁,却不能完全被滤光片箱2的内壁所吸收,其中一部分则被滤光片箱2的内壁反射。而且,由于滤光片箱2的内壁不是镜面,反射光L3在滤光片箱2的内壁不是被镜面反射,而是如图所示被漫射。漫射光L4在滤光片箱2的内壁进一步被反射和漫射,从而形成所谓“迷光”。迷光在滤光片箱2的内壁的漫射过程中,其能量的大部分被吸收变成热,最终消失。但是,反射光L3最初被滤光片箱2的内壁漫射所形成的漫射光L4的部分漫射光L5,有时正好逆着反射光L3的光路返回。这时,漫射光L5会沿着从输入侧光纤41射出的入射光L1到达干涉滤光片3的光路逆行,成为与输入侧光纤41重新结合的“返回光”L6。
返回光L6可能沿着光纤41到达光源。在光通讯中,作为光源通常使用半导体激光元件,如果返回光入射到半导体激光元件的发光部,就会导致半导体激光振荡特性的变化,造成输出不稳定,光通讯质量下降。评价这种质量下降的指标就是众所周知的反射衰减量,有关其测量方法在如下的非专利文献1等文献中有记载。
另外,有关防止光模块中迷光的措施,在下述的专利文献1~3中有记载。专利文献1所记载的发明是为了防止由干涉滤光片反射的光的一部分入射到输出侧的光接收元件导致串扰,在滤光片箱内开设了具有比干涉滤光片的反射光扩展范围更大的开口,但其内部口径随着深度逐渐变小的锥孔,使反射光反射到锥孔的内壁,以免反射光到达光接收元件。而在专利文献2和3中所记载的光模块是在滤光片箱的内壁使用了可以吸收迷光的材料。
<现有技术文献>
<专利文献1>日本专利公报特开2007-57859号
<专利文献2>日本专利公报特开2009-20540号
<专利文献3>日本专利公报特开2007-17903号
<非专利文献1>安捷伦科技有限公司网页“安捷伦81610A系列·使用了反射衰减模块的反射衰减测量”
<URL:http://www.home.agilent.com/upload/cmc_upload/All/5988-3435JA.pdf?&cc=JP&lc=jpn>
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