[发明专利]定位诱导的地下岩层裂缝中的示踪支撑剂的与岩性和井眼状况无关的方法有效
申请号: | 201280054944.6 | 申请日: | 2012-07-31 |
公开(公告)号: | CN104114811B | 公开(公告)日: | 2017-05-17 |
发明(设计)人: | H.D.小史密斯 | 申请(专利权)人: | 卡博陶粒有限公司 |
主分类号: | E21B43/267 | 分类号: | E21B43/267 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 李强,傅永霄 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 定位 诱导 地下 岩层 裂缝 中的 支撑 状况 无关 方法 | ||
1.一种用于结合由井眼穿过的可开裂的地下岩层而使用的测井方法,包括以下步骤:
利用一个或多个测井工具设备执行压裂前测井操作和压裂后测井操作,所述测井工具设备具有中子发射源和定位成离所述中子发射源有不同距离的多个热中子或俘获γ射线测井探测器,其中执行压裂前和压裂后测井操作中的每一个包括移动所述测井工具设备穿过所述井眼并且分别生成a)压裂前近探测器计数率记录和压裂前远探测器计数率记录,即BF计数率记录和b)压裂后近探测器计数率记录和压裂后远探测器计数率记录,即AF计数率记录;
基于所述BF计数率记录产生压裂前近/远计数率比率记录,即BFN/F比率记录;
基于所述AF计数率记录产生压裂后近/远计数率比率记录,即AFN/F比率记录;
针对所述压裂前和压裂后测井操作之间的在井眼流体、测井工具和中子源输出中的一个或多个方面的任何变化通过修正所述BF计数率记录而产生修正BF计数率记录;
针对所述压裂前和压裂后测井操作之间的在井眼流体、测井工具和中子源输出中的一个或多个方面的任何变化通过修正所述BFN/F比率记录而产生修正BF比率记录;
比较所述AFN/F比率记录和修正BF比率记录以确定近/远计数率比率差异,即N/F比率差异;
基于所确定的N/F比率差异来计算近探测器和/或远探测器计数率差异作为与岩性无关且/或与井眼状况无关且经氢指数修正的计数率差异;
使所计算的近探测器和/或远探测器计数率差异与相应的经修正的BF计数率记录组合来产生调整的压裂前近探测器和/或远探测器计数率记录,其为与岩性无关且/或与井眼状况无关且经氢指数修正的压裂前计数率记录;
将所述调整的压裂前近探测器和/或远探测器计数率记录与相应的AF计数率记录相比较,以确定含有高热中子俘获截面材料的支撑剂在岩层裂缝和/或邻近开裂岩层的井眼区域中的高度/位置。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述计算步骤中,使用在不包含示踪支撑剂的井区间中由测井探测器所探测的相应近和/或远探测器中的压裂后计数率与压裂后近/远比率之间的关系来计算所述近和/或远探测器计数率差异。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述计算步骤中,使用在不包含示踪支撑剂的井区间中由测井探测器所探测的相应近和/或远探测器中的经修正的压裂前计数率与经修正的压裂前近/远比率之间的关系来计算所述近和/或远探测器计数率差异。
4.一种用于结合由井眼穿过的可开裂的地下岩层而使用的测井方法,包括以下步骤:
利用一个或多个测井工具设备执行压裂前测井操作和压裂后测井操作,所述测井工具设备具有中子发射源和定位成离所述中子发射源有不同距离的多个热中子或俘获γ射线测井探测器,其中执行压裂前和压裂后测井操作中的每一个包括移动所述测井工具设备穿过所述井眼并且分别生成a)压裂前近探测器计数率测量值和压裂前远探测器计数率测量值,即BF计数率和b)压裂后近探测器计数率测量值和压裂后远探测器计数率测量值,即AF计数率;
基于所述BF计数率产生压裂前近/远计数率比率测量值,即BFN/F比率;
基于所述AF计数率产生压裂后近/远计数率比率测量值,即AFN/F比率;
比较所述AFN/F比率和所述BFN/F比率来确定近/远计数率比率差异,即N/F比率差异;
使用所述N/F比率差异来计算在BF计数率和AF计数率之间的近和/或远探测器计数率差异;
使所计算的近和/或远探测器计数率差异与BF计数率或AF计数率的相应计数率组合来产生调整压裂前计数率,即MBF计数率,作为与岩性无关且/或与井眼状况无关且经氢指数修正的压裂前计数率,或调整压裂后计数率,即MAF计数率,作为与岩性无关且/或与井眼状况无关且经氢指数修正的压裂后计数率;
将MBF计数率与AF计数率相比较或者将MAF计数率与BF计数率相比较,以确定含有高热中子俘获截面材料的支撑剂在岩层和/或邻近开裂岩层的井眼区域和/或邻近所述开裂岩层的井眼区域中的高度/位置;
对于井眼中的不同深度区间重复所述方法。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,根据在不包含示踪支撑剂的井区间中由测井探测器所探测的相应近和/或远探测器中的压裂后计数率与AFN/F比率之间的关系来计算所述近和/或远探测器计数率差异。
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