[发明专利]借助于2D记录的3D表面检测系统和方法

权利要求书

1.一种3D表面检测系统(1)，

所述3D表面检测系统至少具有：

测量台(10)，

在所述测量台(10)上能够安置用于3D检测的部件(4，120，130)；

至少一个相机(7’，7’’，......)，

尤其多个相机(7’，7’’，......)，

所述相机对所述部件(4，120，130)进行二维记录；

计算机，

借助于所述计算机能够将所述相机(7’，7’’，......)的二维记录与已存储的3D模型进行对比，以及

借助于二维记录和已存储的3D模型的最佳拟合得到待测量的部件(4，120，130)的3D模型。

2.根据权利要求1所述的系统，

所述系统为了表面检测而具有照明装置(8’，8’’)，

所述照明装置能够实现投射的光结构、尤其条纹状结构。

3.根据权利要求1或2中一项或两项所述的系统，

所述系统具有照明装置(8’，8’’)，

所述照明装置能够实现对所述部件(4，120，130)进行选择性的照亮。

4.根据权利要求1、2或3中的一项或多项所述的系统，

所述系统具有外部光抑制，

尤其通过单色照明和图像评估。

5.根据权利要求1所述的系统，

所述系统具有至少一个基准标记(13’，13’’，......)，

尤其多个基准标记(13’，13’’，......)，

更尤其其中所述测量台(10)具有所述基准标记(13’，13’’)。

6.根据权利要求5所述的系统，

其中至少一个所述基准标记(13’，13’’，......)具有多个标识(14’，14’’，......)。

7.根据权利要求5或6中一项或两项所述的系统，

其中所述标识(14’，14’’，......)以弯曲的形式、圆形地或椭圆形地设置。

8.根据权利要求5、6或7中一项或多项所述的系统，

其中至少一个所述基准标记(13’，13’’，......)具有不同的几何标识(14’，14’’，......)，尤其线和点。

9.根据权利要求5、6或7中一项或多项所述的系统，

其中至少一个所述基准标记(13’，13’’，......)具有相同的几何标识(14’，14’’，......)，尤其线或点。

10.根据权利要求5、6、7、8或9中一项或多项所述的系统，

其中所述基准标记(13’，13’’，......)设置在所述测量台(10)的端侧上。

11.根据权利要求5、6、7、8、9或10中一项或多项所述的系统，

其中所述基准标记(13’，13’’，......)设置在所述测量台(10)的至少两个角部中、尤其所有的角部中。

12.根据权利要求1至1中一项或多项所述的系统，

其中一个所述相机(7’)或多个所述相机(7’，7’’)的相机镜头具有环形光。

13.根据权利要求1至12中一项或多项所述的系统，

所述系统具有照明装置(8，8’)，

所述照明装置能够实现侧面的暗场照明。

14.根据上述权利要求中一项或多项所述的系统，

其中固定地安装所述相机(7’，7’’，......)，尤其所有的相机(7’，7’’，......)。

15.一种用于三维地检测部件(4，120，130)的方法，

其中尤其应用根据权利要求1至14中一项或多项所述的系统，

其中在相机(7’，7’’，......)的测量台(10)上在不同的位置、尤其在两个位置中二维地检测部件(4，120，130)，以及

通过与所述部件(4，120，130)的已知的3D模型的最佳拟合来确定所述部件(4，120，130)的真实的三维性。

16.根据权利要求15所述的方法，

其中改变一次、尤其翻转、更尤其仅翻转一次所述部件(4，120，130)的状态。